公开(公告)号：CN103278945A

公开(公告)日：2013-09-04

申请号：CN201310140352.2

申请日：2013-04-22

申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 ,  京东方科技集团股份有限公司

发明人： 侯玉强 ,  井杨坤 ,  姚松 ,  孙健 ,  顾二兴 ,  季兴宾 ,  夏祥 ,  范立革

IPC分类号： G02F1/13

CPC分类号： G02F1/1309 ,  G02F1/1303

摘要： 本发明公开了一种检测设备，涉及电子技术领域，为了可以较好地提高检测设备的检测效率而发明。该检测设备包括：加热柜，所述加热柜内设有加热模块以及加热腔，所述加热腔用于放置待测物，所述加热模块用于加热多个所述待测物；检测柜，所述检测柜内设有检测台，所述检测台用于放置加热后的待测物。本发明主要适用于检测液晶面板的缺陷。

公开(公告)号：CN103278945B

公开(公告)日：2016-03-02

申请号：CN201310140352.2

申请日：2013-04-22

申请人： 合肥京东方光电科技有限公司 ,  京东方科技集团股份有限公司

发明人： 侯玉强 ,  井杨坤 ,  姚松 ,  孙健 ,  顾二兴 ,  季兴宾 ,  夏祥 ,  范立革

IPC分类号： G02F1/13

CPC分类号： G02F1/1309 ,  G02F1/1303

摘要： 本发明公开了一种检测设备，涉及电子技术领域，为了可以较好地提高检测设备的检测效率而发明。该检测设备包括：加热柜，所述加热柜内设有加热模块以及加热腔，所述加热腔用于放置待测物，所述加热模块用于加热多个所述待测物；检测柜，所述检测柜内设有检测台，所述检测台用于放置加热后的待测物。本发明主要适用于检测液晶面板的缺陷。