一种对盒设备、对位方法

    公开(公告)号:CN104808370B

    公开(公告)日:2017-10-31

    申请号:CN201510268313.X

    申请日:2015-05-22

    IPC分类号: G02F1/13 G02F1/1333

    摘要: 本发明涉及一种对盒设备,包括用于承载第一基板的第一基台和用于承载第二基板的第二基台,第一基台具有相对设置的、用于吸附第一基板的第一吸附面和第二吸附面;用于调整第一基台的位置、以使得第一基板与第二基板进行预对位的预对位装置;对盒设备还包括:通过翻转第一基台以翻转第一基板的翻转装置;用于调整第二基台的位置以使得翻转后的第一基板和第二基板进行对位的对位装置;用于控制第一基板移动以使得第一基板和第二基板对盒的对盒装置。本发明还提供一种对位方法。预对位装置、翻转装置、对位装置、对盒装置的集成设置,缩短了基板运输流程;提高工作效率,保证了第一基板和第二基板对位的高效性。

    测试装置及测试方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118937770A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411046081.9

    申请日:2024-07-31

    摘要: 本公开提供一种测试装置及测试方法,测试装置包括:控制模块、放大模块以及电平转换模块,所述控制模块包括第一测试端和第二测试端,所述放大模块包括输入端和输出端,所述电平转换模块包括第一端和第二端,所述控制模块的第一测试端与所述放大模块的输入端连接,所述放大模块的输出端用于与待测器件的电压输入端连接,所述控制模块的第二测试端与所述电平转换模块的第一端连接,所述电平转换模块的第二端用于与待测器件的通信接口连接。与相关技术相比,本公开实现了自动调节测试电压,并对测试结果进行自动记录和分析,简化了测试过程,提高了测试效率,降低了人工成本;且通过设置预设电压范围可以兼容不同类型待测器件的测试。