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公开(公告)号：CN115598716B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202110769707.9
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/226 , G01N23/046
摘要： 本申请提供了用于射线扫描设备的射线源的安装定位结构以及射线扫描设备，射线扫描设备包括射线源以及固定设置的支撑框架，安装定位结构包括主体，主体能够固定连接到射线源和支撑框架，使得射线源能够通过主体固定安装到支撑框架上，安装定位结构还包括：移动装置，射线源能够通过移动装置在第一平面上被移动到预定安装位置；第一定位装置，其用于在第一平面上对射线源进行定位；升降装置，其用于沿第一方向调节射线源的位置，其中第一方向垂直于第一平面；以及第二定位装置，其用于在第一方向上固定射线源的位置。
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公开(公告)号：CN118318867A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410713751.1
申请日：2024-06-04
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技江苏有限公司
IPC分类号： A22B5/00
摘要： 本发明提供一种肉类分级装置以及方法，涉及检测技术领域。该装置包括：流水线，包括M个子线体，所述M个子线体包括第一子线体；N个悬挂件，安装于所述流水线，其中，所述N个悬挂件被配置为分别连接同一肉类对象的不同局部，所述N个悬挂件中的第一悬挂件沿所述第一子线体移动，其余悬挂件沿其他子线体移动，M、N皆为大于或等于2的整数；第一扫描设备，被配置为扫描被所述第一悬挂件带动，而沿所述第一子线体移动的所述肉类对象的局部，输出用于肉类分级的扫描数据。
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公开(公告)号：CN115598719B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202110770950.2
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/226 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源；和探测器组件。至少一个射线源能够围绕旋转轴线相对于承载装置在多个扫描位置之间转动。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿旋转轴线升降。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿旋转轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线相对于承载装置转动到多个扫描位置中的另一个。检查系统还基于探测器组件的检测数据来重建被检查的物体的三维扫描图像。
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公开(公告)号：CN115598718B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202110769972.7
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/226 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源，每个射线源包括单独的壳体以限定真空空间并且包括封装在壳体内的多个靶点；和探测器组件。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿承载装置的中心轴线升降。沿中心轴线观察，至少一个射线源能够相对于承载装置在多个扫描位置之间平移。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿中心轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源相对于承载装置平移到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN115855982A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211497150.9
申请日：2019-12-11
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/046 , G01V5/00
摘要： 本公开提供调节定位装置和方法，以及辐射扫描成像设备，调节定位装置用于调整辐射扫描成像设备的射线源组件的方位。调节定位装置包括：底座(100)，其包括彼此连接的第一部件和第二部件，并被构造成用于支撑射线源组件(10)，以使射线源组件竖直地定位在第二部件上；第一调节机构(200)，其安装至底座的第一部件和所述设备框架，并被配置成通过驱动整个底座相对于设备框架运动而带动射线源组件在第一方向上进行平移运动，以调整射线源组件的位置；和第二调节机构(300)，其安装至底座的第二部件和设备框架，并被配置成通过驱动第二部件相对于第一部件运动而带动射线源组件在一角度范围内转动，以调整射线源组件的出束方向。
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公开(公告)号：CN115598715A
公开(公告)日：2023-01-13
申请号：CN202110769706.4
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司(CN) , 清华大学(CN)
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源；和探测器组件。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿承载装置的中心轴线升降。沿中心轴线观察，至少一个射线源能够相对于承载装置在多个扫描位置之间平移。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿中心轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源相对于承载装置平移到多个扫描位置中的另一个。检查系统还基于探测器组件的检测数据来重建被检查的物体的三维扫描图像。
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公开(公告)号：CN115097536A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110769061.4
申请日：2021-07-07
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：射线源；探测器组件；和输送装置，用于承载被检查的航空托盘货物。射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的航空托盘货物能够进入检查区域，并且沿检查区域的中心轴线观察，射线源能够在多个扫描位置之间平移，射线源在相邻两个扫描位置之间的平移距离大于射线源的相邻靶点之间的间距，行进方向与中心轴线平行。当射线源位于多个扫描位置中的一个时，射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且射线源发射X射线；并且当射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，射线源平移到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN115097535A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202110769036.6
申请日：2021-07-07
申请人： 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01V5/00 , G01N23/046 , G01B15/04
摘要： 本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：射线源，能够围绕旋转轴线在至少两个扫描位置之间转动，射线源在相邻两个扫描位置之间的转动角度大于每个射线源的相邻靶点相对于旋转轴线的角度；探测器组件；和输送装置，用于承载被检查的物体。射线源和探测器组件能够相对于输送装置沿行进方向移动，从而被检查的物体能够进入检查区域。当射线源位于多个扫描位置中的一个时，射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动并且射线源发射X射线；当射线源和探测器组件相对于输送装置沿行进方向移动预定距离后，射线源围绕旋转轴线转动到多个扫描位置中的另一个。
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公开(公告)号：CN114604588A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202011413588.5
申请日：2020-12-04
申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
摘要： 提供一种输送装置和检查系统。输送装置包括：第一支撑框架；第一输送机构和第二输送机构，安装在所述第一支撑框架上；以及切换机构，被构造成有选择地在直立方向上提升所述第一输送机构或第二输送机构，使得所述第一输送机构或第二输送机构承载货物、并在不同的第一水平方向或者第二水平方向上输送所述货物。输送装置能实现货物的定位及平稳连续输送，实现货物不同姿态的平稳输送和校准定位。
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公开(公告)号：CN114408530A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111668908.6
申请日：2021-12-30
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： B65G47/24
摘要： 本公开提供了一种物品姿态调整设备和物品输送系统。物品姿态调整设备包括机架、输送机构和姿态调整机构。输送机构被配置为沿输送方向X在输送表面上输送被输送物品。姿态调整机构包括：姿态调整部件，相对于机架可移动地设置于输送表面上方；和驱动装置，与姿态调整部件驱动连接，被配置为被输送物品到达输送表面的姿态调整位置时驱动姿态调整部件向靠近被输送物品的方向移动以带动被输送物品动作来改变在输送表面上的位置，实现调整被输送物品的姿态并达到目标位置。该物品姿态调整设备结构紧凑，占用场地小，维护方便。物品输送系统包括该物品姿态调整设备。
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