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公开(公告)号:CN108269277A
公开(公告)日:2018-07-10
申请号:CN201611270685.7
申请日:2016-12-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于对辐射图像进行质量评价的方法,包括:选择多个基准辐射图像,并且针对所述多个基准辐射图像中的每一个基准辐射图像的特定区域进行以下处理:计算归一化的灰度共生矩阵;以及根据所述归一化的灰度共生矩阵,计算特征参数;根据所述多个基准辐射图像的特征参数,计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数;计算待评价辐射图像的特定区域的归一化的灰度共生矩阵;根据所述待评价辐射图像的归一化的灰度共生矩阵计算所述待评价辐射图像的特征参数;以及根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算偏差,所述偏差用于表征所述待评价辐射图像的质量。
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公开(公告)号:CN101358936A
公开(公告)日:2009-02-04
申请号:CN200810081325.1
申请日:2008-02-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Inventor: 谢亚丽 , 苗齐田 , 彭华 , 康克军 , 胡海峰 , 陈志强 , 曹学光 , 唐传祥 , 顾建平 , 王学武 , 温宏胜 , 何蓓 , 刘耀红 , 孙尚民 , 宋全伟 , 林津 , 丁先利
CPC classification number: G01N23/04 , G01N2223/414 , G01N2223/423 , G06T7/593 , G06T2207/10116
Abstract: 本发明提供了一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别的方法及系统。根据本发明,可以实现对于在射线束方向上重叠的物体,剥离其中占射线吸收的主要成分的遮挡物,使原本因占射线吸收的次要成分所以不明显的物体变得明显,并且可以识别其材料属性:如有机物、混合物、金属等)。根据本发明的方法可以对射线方向上非主要成份进行材料识别,这为自动识别集装箱内藏有的爆炸物品、毒品等其它有害物体奠定了基础。
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公开(公告)号:CN108269277B
公开(公告)日:2022-03-08
申请号:CN201611270685.7
申请日:2016-12-30
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种用于对辐射图像进行质量评价的方法,包括:选择多个基准辐射图像,并且针对所述多个基准辐射图像中的每一个基准辐射图像的特定区域进行以下处理:计算归一化的灰度共生矩阵;以及根据所述归一化的灰度共生矩阵,计算特征参数;根据所述多个基准辐射图像的特征参数,计算所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数;计算待评价辐射图像的特定区域的归一化的灰度共生矩阵;根据所述待评价辐射图像的归一化的灰度共生矩阵计算所述待评价辐射图像的特征参数;以及根据所述多个基准辐射图像的特征参数的统计特征参数以及所述待评价辐射图像的特征参数计算偏差,所述偏差用于表征所述待评价辐射图像的质量。
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公开(公告)号:CN101358936B
公开(公告)日:2011-03-16
申请号:CN200810081325.1
申请日:2008-02-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Inventor: 谢亚丽 , 苗齐田 , 彭华 , 康克军 , 胡海峰 , 陈志强 , 曹学光 , 唐传祥 , 顾建平 , 王学武 , 温宏胜 , 何蓓 , 刘耀红 , 孙尚民 , 宋全伟 , 林津 , 丁先利
CPC classification number: G01N23/04 , G01N2223/414 , G01N2223/423 , G06T7/593 , G06T2207/10116
Abstract: 本发明提供了一种利用双视角多能量透射图像进行材料识别的方法及系统。根据本发明,可以实现对于在射线束方向上重叠的物体,剥离其中占射线吸收的主要成分的遮挡物,使原本因占射线吸收的次要成分所以不明显的物体变得明显,并且可以识别其材料属性:如有机物、混合物、金属等)。根据本发明的方法可以对射线方向上非主要成份进行材料识别,这为自动识别集装箱内藏有的爆炸物品、毒品等其它有害物体奠定了基础。
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公开(公告)号:CN101210895B
公开(公告)日:2011-09-28
申请号:CN200710130137.9
申请日:2007-07-20
Applicant: 清华同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01V5/0058 , A61B6/022 , G01N23/04 , G06T7/593 , G06T2207/10116 , G06T2207/30112
Abstract: 一种双视角扫描辐射成像的方法采用由同一辐射源发射的X射线,经过双缝准直器形成两束对称的或非对称的、成一定夹角的束流扇面,穿过被检物体,分别由左右探测器阵列接收后转换成电信号输入各自的图像获取系统,然后输入到计算机处理系统进行图像处理、显示。与方法对应的系统包括辐射源、束流控制器、两列互连的探测器阵列、与各自探测器阵列连接的图像获取系统以及计算机处理系统。本发明可以显示分别由探测器阵列所检测的透视图像,也可以显示由两者利用视差原理重建出不同深度的透视图像,方便、快捷、检验速度快,以低成本的方式实现了对不同深度物体的识别。
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公开(公告)号:CN101210895A
公开(公告)日:2008-07-02
申请号:CN200710130137.9
申请日:2007-07-20
Applicant: 清华同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01V5/0058 , A61B6/022 , G01N23/04 , G06T7/593 , G06T2207/10116 , G06T2207/30112
Abstract: 一种双视角扫描辐射成像的方法采用由同一辐射源发射的X射线,经过双缝准直器形成两束对称的或非对称的、成一定夹角的束流扇面,穿过被检物体,分别由左右探测器阵列接收后转换成电信号输入各自的图像获取系统,然后输入到计算机处理系统进行图像处理、显示。与方法对应的系统包括辐射源、束流控制器、两列互连的探测器阵列、与各自探测器阵列连接的图像获取系统以及计算机处理系统。本发明可以显示分别由探测器阵列所检测的透视图像,也可以显示由两者利用视差原理重建出不同深度的透视图像,方便、快捷、检验速度快,以低成本的方式实现了对不同深度物体的识别。
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公开(公告)号:CN201043955Y
公开(公告)日:2008-04-02
申请号:CN200620167700.0
申请日:2006-12-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
Abstract: 本实用新型涉及大型物体辐射检查系统的扫描辐射成像技术领域,本实用新型的双视角扫描辐射成像装置包括辐射源、束流控制器、两列互连的探测器阵列、与各自探测器阵列连接的图像获取系统以及计算机处理系统。本实用新型可以显示分别由探测器阵列所检测的透视图像,也可以显示由两者利用视差原理重建出不同深度的透视图像,方便、快捷、检验速度快,以低成本的方式实现了对不同深度物体的识别。
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