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公开(公告)号:CN103913763A
公开(公告)日:2014-07-09
申请号:CN201310004796.3
申请日:2013-01-07
申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号: G01T1/36
摘要: 公开了一种辐射探测器及包括该辐射探测器的辐射探测装置。辐射探测器包括:用于感测辐射的半导体晶体,所述半导体晶体包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面;位于半导体晶体的顶部表面的第一阳极;位于半导体晶体的底部表面的第二阳极;以及位于半导体晶体的至少一个侧面的阴极。辐射探测装置包括该辐射探测器和信号处理电路。该辐射探测器利用结构简单的双阳极结构实现了单电荷灵敏特性,从而改善能量分辨率。
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公开(公告)号:CN103913763B
公开(公告)日:2016-06-15
申请号:CN201310004796.3
申请日:2013-01-07
申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号: G01T1/36
摘要: 公开了一种辐射探测器及包括该辐射探测器的辐射探测装置。辐射探测器包括:用于感测辐射的半导体晶体,所述半导体晶体包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面;位于半导体晶体的顶部表面的第一阳极;位于半导体晶体的底部表面的第二阳极;以及位于半导体晶体的至少一个侧面的阴极。辐射探测装置包括该辐射探测器和信号处理电路。该辐射探测器利用结构简单的双阳极结构实现了单电荷灵敏特性,从而改善能量分辨率。
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公开(公告)号:CN203037860U
公开(公告)日:2013-07-03
申请号:CN201320005909.7
申请日:2013-01-07
申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC分类号: G01T1/36
摘要: 公开了一种辐射探测器及包括该辐射探测器的辐射探测装置。辐射探测器包括:用于感测辐射的半导体晶体,所述半导体晶体包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面;位于半导体晶体的顶部表面的第一阳极;位于半导体晶体的底部表面的第二阳极;以及位于半导体晶体的至少一个侧面的阴极。辐射探测装置包括该辐射探测器和信号处理电路。该辐射探测器利用结构简单的双阳极结构实现了单电荷灵敏特性,从而改善能量分辨率。
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