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公开(公告)号:CN118483260B
公开(公告)日:2024-11-12
申请号:CN202410911913.2
申请日:2024-07-09
申请人: 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G01N23/222 , G01N23/04 , G01N23/083
摘要: 本发明涉及基于放射性的元素分析领域,尤其是,涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品,所述元素分析系统包括:X射线扫描设备,包括X射线源和探测器阵列,对物料进行双能的X射线扫描;瞬发伽玛中子活化分析设备,在所述物料传输方向上,安装在所述X射线扫描设备的下游;以及控制装置,基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度,计算自吸收修正系数,对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品,能够提高修正系数的计算准确度,从而提高元素分析检测精度。
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公开(公告)号:CN118483260A
公开(公告)日:2024-08-13
申请号:CN202410911913.2
申请日:2024-07-09
申请人: 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G01N23/222 , G01N23/04 , G01N23/083
摘要: 本发明涉及基于放射性的元素分析领域,尤其是,涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品,所述元素分析系统包括:X射线扫描设备,包括X射线源和探测器阵列,对物料进行双能的X射线扫描;瞬发伽玛中子活化分析设备,在所述物料传输方向上,安装在所述X射线扫描设备的下游;以及控制装置,基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度,计算自吸收修正系数,对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品,能够提高修正系数的计算准确度,从而提高元素分析检测精度。
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公开(公告)号:CN221239222U
公开(公告)日:2024-06-28
申请号:CN202323179020.3
申请日:2023-11-23
申请人: 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号: G05D23/24
摘要: 本申请实施例提供一种探测器温度控制装置和检测设备,温度控制装置包括至少一个执行器、加热机构、传感器和控制器;加热机构用于加热探测器,加热机构包括至少一个加热件,至少一个加热件设置于探测器的外侧,且执行器与至少一个加热件电连接;传感器用于检测探测器的温度;控制器与至少一个执行器和传感器连接。本申请提供的探测器温度控制装置,加热机构包括至少一个加热件,至少一个加热件设置于探测器的外侧,且执行器与至少一个加热件电连接,在某一执行器或者加热件发生故障后,可以控制其他执行器和加热件进行加热工作,以使得探测器始终处于一个恒温的环境,从而提高了探测器探测效率和探测精度。此外,加热件外置于探测器,也有利于故障排查和维修。
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