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公开(公告)号：CN118483260A
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202410911913.2
申请日：2024-07-09
申请人： 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/222 , G01N23/04 , G01N23/083
摘要： 本发明涉及基于放射性的元素分析领域，尤其是，涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，所述元素分析系统包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，能够提高修正系数的计算准确度，从而提高元素分析检测精度。
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公开(公告)号：CN116978598A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310914543.3
申请日：2023-07-24
申请人： 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本申请公开一种辐射源的屏蔽装置及检测设备。辐射源的屏蔽装置包括外壳及回转体，所述外壳的内部设有回转腔，且所述外壳上开设有取放口，所述取放口与所述回转腔连通；回转体的至少一部分能移动地设于所述回转腔的内部，所述回转体设于所述回转腔内部的部分上设有能承载辐射源的承载部；所述屏蔽装置具有开启状态与关闭状态，在所述开启状态，所述承载部与所述取放口相对应，在所述关闭状态，所述承载部与所述取放口错开。本申请实施例提供的辐射源的屏蔽装置及检测设备，具有便于工作人员快速取放辐射源的优点，能有效减少辐射源取放过程中对工作人员受到的辐射量。
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公开(公告)号：CN118483260B
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202410911913.2
申请日：2024-07-09
申请人： 同方威视科技江苏有限公司 , 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/222 , G01N23/04 , G01N23/083
摘要： 本发明涉及基于放射性的元素分析领域，尤其是，涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，所述元素分析系统包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，能够提高修正系数的计算准确度，从而提高元素分析检测精度。
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公开(公告)号：CN221239222U
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202323179020.3
申请日：2023-11-23
申请人： 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G05D23/24
摘要： 本申请实施例提供一种探测器温度控制装置和检测设备，温度控制装置包括至少一个执行器、加热机构、传感器和控制器；加热机构用于加热探测器，加热机构包括至少一个加热件，至少一个加热件设置于探测器的外侧，且执行器与至少一个加热件电连接；传感器用于检测探测器的温度；控制器与至少一个执行器和传感器连接。本申请提供的探测器温度控制装置，加热机构包括至少一个加热件，至少一个加热件设置于探测器的外侧，且执行器与至少一个加热件电连接，在某一执行器或者加热件发生故障后，可以控制其他执行器和加热件进行加热工作，以使得探测器始终处于一个恒温的环境，从而提高了探测器探测效率和探测精度。此外，加热件外置于探测器，也有利于故障排查和维修。
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公开(公告)号：CN220357820U
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202321931154.3
申请日：2023-07-21
申请人： 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
摘要： 本申请公开了一种辐射源的转运装置及检测设备，其中，所述辐射源的转运装置包括防护构件，所述防护构件包括防护外壳与防护盒，防护外壳具有沿第一方向贯通的贯通腔；防护盒能拆装地穿置于所述贯通腔，且所述防护盒的内部形成有至少一个容纳腔，所述容纳腔能容纳辐射源。本申请实施例提供的辐射源的转运装置及检测设备，具有良好的辐射隔离效果，能有效减少辐射源转运过程中对工作人员受到的辐射量。
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公开(公告)号：CN115855990A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202310112882.X
申请日：2023-02-15
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/203
摘要： 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置，应用于探测技术领域，m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体，m为大于等于2的整数，背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件，射线发生器设于外层结构体的上方，被构造为向m层结构被检物发射入射射线；n个探测器设于外层结构体的上方，且位于入射射线的周向方向上，以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线，n为大于等于1的整数；屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器，以遮挡部分入射射线射至探测器，和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强，可以实现精准检查的优点。
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公开(公告)号：CN115855990B
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310112882.X
申请日：2023-02-15
申请人： 同方威视技术股份有限公司
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N23/203
摘要： 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置，应用于探测技术领域，m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体，m为大于等于2的整数，背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件，射线发生器设于外层结构体的上方，被构造为向m层结构被检物发射入射射线；n个探测器设于外层结构体的上方，且位于入射射线的周向方向上，以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线，n为大于等于1的整数；屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器，以遮挡部分入射射线射至探测器，和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强，可以实现精准检查的优点。
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公开(公告)号：CN308320502S
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202330359036.9
申请日：2023-06-12
申请人： 同方威视技术股份有限公司
摘要： 1.本外观设计产品的名称：物料元素检测分析设备。
2.本外观设计产品的用途：用于在工业生产过程中对物料元素进行分析和检测。
3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。
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