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公开(公告)号：CN105891157B
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201610195238.3
申请日：2016-03-30
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 固体材料逆向反射特性测量装置，涉及固体材料逆向反射特性的精确测量技术，目的是为了解决现有方法测量固体材料逆向反射特性测量结果误差大的问题。本发明的激光器发出的激光入射至光纤环形器的一号端口，从光纤环形器的二号端口出射的激光经光纤准直器准直后入射至待测固体材料的表面，经待测固体材料表面逆向反射的激光经光纤准直器准直后返回至光纤环形器的二号端口，从光纤环形器的三号端口出射的激光入射至光电探测器的探测面上，所述待测固体材料位于遮光筒内，遮光筒位于转盘上。本发明能够实现微立体角方向上的激光能量测量，测量精度高，且操作简单，适用于光学测量和激光主动探测。
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公开(公告)号：CN105203437A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510603970.5
申请日：2015-09-21
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N15/02
摘要： 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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公开(公告)号：CN105203437B
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201510603970.5
申请日：2015-09-21
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N15/02
摘要： 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。
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公开(公告)号：CN105891157A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610195238.3
申请日：2016-03-30
申请人： 哈尔滨工业大学
CPC分类号： G01N21/4738 , G01N21/01 , G01N2021/0112 , G01N2021/4742
摘要： 固体材料逆向反射特性测量装置，涉及固体材料逆向反射特性的精确测量技术，目的是为了解决现有方法测量固体材料逆向反射特性测量结果误差大的问题。本发明的激光器发出的激光入射至光纤环形器的一号端口，从光纤环形器的二号端口出射的激光经光纤准直器准直后入射至待测固体材料的表面，经待测固体材料表面逆向反射的激光经光纤准直器准直后返回至光纤环形器的二号端口，从光纤环形器的三号端口出射的激光入射至光电探测器的探测面上，所述待测固体材料位于遮光筒内，遮光筒位于转盘上。本发明能够实现微立体角方向上的激光能量测量，测量精度高，且操作简单，适用于光学测量和激光主动探测。
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