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公开(公告)号：CN101551271B
公开(公告)日：2010-08-25
申请号：CN200910072117.X
申请日：2009-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于摆动镜和透射光栅的光谱仪，属于一种光谱仪。本发明的目的是解决目前用于工业流程在线检测用的光谱测量仪器在1000nm-1800nm的近红外波段为达到一定的分辨率会导致成本高、体积大的问题。本发明的平面透射光栅的后表面上有光栅刻痕，通过入射光纤的光束入射到双凸透镜内，经双凸透镜透射得到平行光，所述平行光入射到平面透射光栅的前表面，经前表面到达后表面被光栅刻痕第一次分光后入射到摆动反射镜内，经摆动反射镜反射后的光入射到平面透射光栅的后表面，被光栅刻痕第二次分光后再经过前表面入射到凹面反射镜内，经凹面反射镜反射后的光线被近红外探测器的输入端接收。本发明用作光谱分析仪器。
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公开(公告)号：CN101551322B
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN200910072057.1
申请日：2009-05-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于近红外测量的恒温样品池，它涉及一种恒温样品池。本发明解决了近红外测量过程由于样品温度的变化导致测量数据不稳定的问题。本发明的金属内壳的前表面和后表面相对开有通光孔，金属内壳位于金属外壳内部，第一半导体热电致冷器位于金属外壳的左侧壁和金属内壳的左侧壁之间，且其两个工作面分别与金属外壳的内壁和金属内壳的外壁连接，第二半导体热电致冷器位于金属外壳的右侧壁和金属内壳的右侧壁之间，且其两个工作面分别与金属内壳的外壁和金属外壳的内壁贴合，第三半导体热电致冷器位于金属内壳的下表面和金属外壳的底面之间，且其两个工作面分别与金属内壳的外壁和金属外壳的内壁贴合。本发明适用于近红外测量样品的过程。
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公开(公告)号：CN101551322A
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200910072057.1
申请日：2009-05-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 用于近红外测量的恒温样品池，它涉及一种恒温样品池。本发明解决了近红外测量过程由于样品温度的变化导致测量数据不稳定的问题。本发明的金属内壳的前表面和后表面相对开有通光孔，金属内壳位于金属外壳内部，第一半导体热电致冷器位于金属外壳的左侧壁和金属内壳的左侧壁之间，且其两个工作面分别与金属外壳的内壁和金属内壳的外壁连接，第二半导体热电致冷器位于金属外壳的右侧壁和金属内壳的右侧壁之间，且其两个工作面分别与金属内壳的外壁和金属外壳的内壁贴合，第三半导体热电致冷器位于金属内壳的下表面和金属外壳的底面之间，且其两个工作面分别与金属内壳的外壁和金属外壳的内壁贴合。本发明适用于近红外测量样品的过程。
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公开(公告)号：CN101551271A
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200910072117.X
申请日：2009-05-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于摆动镜和透射光栅的光谱仪，属于一种光谱仪。本发明的目的是解决目前用于工业流程在线检测用的光谱测量仪器在1000nm－1800nm的近红外波段为达到一定的分辨率会导致成本高、体积大的问题。本发明的平面透射光栅的后表面上有光栅刻痕，通过入射光纤的光束入射到双凸透镜内，经双凸透镜透射得到平行光，所述平行光入射到平面透射光栅的前表面，经前表面到达后表面被光栅刻痕第一次分光后入射到摆动反射镜内，经摆动反射镜反射后的光入射到平面透射光栅的后表面，被光栅刻痕第二次分光后再经过前表面入射到凹面反射镜内，经凹面反射镜反射后的光线被近红外探测器的输入端接收。本发明用作光谱分析仪器。
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