积分式接触电阻测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN102707149B

    公开(公告)日:2015-03-04

    申请号:CN201210218362.9

    申请日:2012-06-28

    Abstract: 积分式接触电阻测量系统及测量方法,涉及一种电阻测量系统及测量方法。它是为了解决接触电阻测量方法的数据稳定性差、准确性低的问题。它采用高阻低倍率电压放大器采集待测部件两端的电压,并将采集的电压进行放大;采用电压跟随器采集待测部件和标准检流电阻之间的电压,并进行隔离,获得低阻抗输出电压,然后将该低阻抗输出电压输入至多路AD转换器;采用量程切换开关设定模拟积分器的积分常数,采用模拟积分器对放大后电压进行模拟积分;采用单片机计算待测部件的两端电压和通过待测部件的激励电流,从而获得待测部件的电阻值;实现积分式接触电阻的测量。本发明适用于接触电阻的测量。

    一种电器触头材料静接触特性分析装置

    公开(公告)号:CN102628823A

    公开(公告)日:2012-08-08

    申请号:CN201210106593.0

    申请日:2012-04-12

    Inventor: 任万滨 曹晟

    Abstract: 一种电器触头材料静接触特性分析装置,它涉及一种电器触头材料特性分析装置。本发明为解决目前没有用于电器触头压力与接触电阻的变化规律的分析装置的问题。所述两根导轨竖直固装在底板的上端面上,所述压力传感器固装在底板的上端面上且位于两根导轨之间,上支撑板水平固装在两根导轨的上端,丝杠与支撑板的螺纹通孔螺纹连接,每根导轨上套装有一个直线轴承,两个直线轴承通过中压板固接为一体,阶梯轴竖直穿装在中压板的中心通孔处且阶梯轴呈上大下小设置,上绝缘套的上部套装在阶梯轴的下端上,第一接线端片位于上绝缘套的下端面上,下绝缘套的下部套装在压力传感器的触头的上端上。本发明的分析装置用于分析电器触头材料静接触特性。

    基于电压—频率变换法的接触电阻测量系统及测试方法

    公开(公告)号:CN102707153A

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN201210218318.8

    申请日:2012-06-28

    Abstract: 基于电压—频率变换法的接触电阻测量系统及测试方法,涉及一种接触电阻测量系统及测试方法。它是为了解决接触电阻测量方法的数据稳定性差、准确性低的问题。本发明采用可变增益电压放大器采集待测部件两端的电压U,并放大;采用电压跟随器采集待测部件和标准检流电阻之间的电压,进行隔离后输入至AD转换器,经AD转换器转换为数字量ix;采用电压—频率转换器将放大后电压转换为频率信号,并进行定时计数,获得待测部件两端的电压U的数字量Ux;根据数字量ix计算激励电流的数字量Ix;进而获得待测部件的电阻值;从而实现基于电压—频率变换法的接触电阻测量。本发明适用于接触电阻的测量。

    积分式接触电阻测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN102707149A

    公开(公告)日:2012-10-03

    申请号:CN201210218362.9

    申请日:2012-06-28

    Abstract: 积分式接触电阻测量系统及测量方法,涉及一种电阻测量系统及测量方法。它是为了解决接触电阻测量方法的数据稳定性差、准确性低的问题。它采用高阻低倍率电压放大器采集待测部件两端的电压,并将采集的电压进行放大;采用电压跟随器采集待测部件和标准检流电阻之间的电压,并进行隔离,获得低阻抗输出电压,然后将该低阻抗输出电压输入至多路AD转换器;采用量程切换开关设定模拟积分器的积分常数,采用模拟积分器对放大后电压进行模拟积分;采用单片机计算待测部件的两端电压和通过待测部件的激励电流,从而获得待测部件的电阻值;实现积分式接触电阻的测量。本发明适用于接触电阻的测量。

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