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公开(公告)号：CN109968203B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201910273117.X
申请日：2019-04-04
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 本发明涉及一种环形抛光加工中抛光盘表面形貌误差的修整装置及方法，隶属于光学加工领域，尤其涉及一种修整环抛机床抛光盘表面形貌的装置及方法，目的是为了克服现有抛光盘修整装置无法根据需要对修整装置进行多姿态的调整，修整精度不高的问题，包括载板、角度调节杆、高度调节杆和刮盘刀具；角度调节杆位于载板的上，且角度调节杆的一端设有调节杆螺栓以实现转动连接；载板上沿角度调节杆的转动路径设有弧形通槽；角度调节杆的另一端连接有高度调节杆，高度调节杆的顶端穿过载板的弧形通槽及角度调节杆的另一端；高度调节杆的底端设有刮盘刀具固定槽并可实现刮盘刀具相对高度调节杆的角度调整。
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公开(公告)号：CN109968203A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201910273117.X
申请日：2019-04-04
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 本发明涉及一种环形抛光加工中抛光盘表面形貌误差的修整装置及方法，隶属于光学加工领域，尤其涉及一种修整环抛机床抛光盘表面形貌的装置及方法，目的是为了克服现有抛光盘修整装置无法根据需要对修整装置进行多姿态的调整，修整精度不高的问题，包括载板、角度调节杆、高度调节杆和刮盘刀具；角度调节杆位于载板的上，且角度调节杆的一端设有调节杆螺栓以实现转动连接；载板上沿角度调节杆的转动路径设有弧形通槽；角度调节杆的另一端连接有高度调节杆，高度调节杆的顶端穿过载板的弧形通槽及角度调节杆的另一端；高度调节杆的底端设有刮盘刀具固定槽并可实现刮盘刀具相对高度调节杆的角度调整。
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公开(公告)号：CN109341889B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN201811340196.3
申请日：2018-11-12
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 本发明的环抛加工中光学元件内部温度的测量方法涉及一种光学元件的温度测量方法，目的是为了克服环抛加工过程中光学元件内部温度分布无法准确获得的问题,具体步骤如下，步骤一、预先设置温度采集孔；步骤二、开启环形抛光机床并测量温度。本发明针对环抛加工中难以测量加工面温度的难题，根据玻璃元件内部温度单一方向均匀分布的特点，得到完整的矩形玻璃元件内部温度分布数据；通过本发明方法获得玻璃元件尤其时矩形玻璃元件的内部温度分布，进而可以推测加工时玻璃元件受热的形状变化过程，从而可以对环抛工艺参数加以调整来实现矩形玻璃元件的确定性控制。
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公开(公告)号：CN109341889A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201811340196.3
申请日：2018-11-12
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 本发明的环抛加工中光学元件内部温度的测量方法涉及一种光学元件的温度测量方法，目的是为了克服环抛加工过程中光学元件内部温度分布无法准确获得的问题,具体步骤如下，步骤一、预先设置温度采集孔；步骤二、开启环形抛光机床并测量温度。本发明针对环抛加工中难以测量加工面温度的难题，根据玻璃元件内部温度单一方向均匀分布的特点，得到完整的矩形玻璃元件内部温度分布数据；通过本发明方法获得玻璃元件尤其时矩形玻璃元件的内部温度分布，进而可以推测加工时玻璃元件受热的形状变化过程，从而可以对环抛工艺参数加以调整来实现矩形玻璃元件的确定性控制。
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