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公开(公告)号：CN103091252B
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201310047855.5
申请日：2013-02-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于红外测温仪的材料发射率测量方法，属于高温不透明材料热物性测量技术领域；本发明是为了解决现有材料发射率测量方法的测量结果精确度差、使用复杂和测量速度慢的问题；本发明首先使用红外测温仪对黑体炉的温度进行测量，并通过计算得到红外测温仪接收的杂散辐射能，然后使用热电偶测温仪对待测材料所制成的试件表面温度进行测量，得到了试件表面的真实温度；本发明设计实现了在五种设定红外测温仪发射率条件下使用测量试件表面温度，得到五个测量温度值，利用五个设定发射率和五个测量温度值代入计算公式得到五个材料发射率，并取其平均值获得待测材料发射率，本发明主要应用在高温不透明材料发射率测量技术领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102564610B
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN201110448155.8
申请日：2011-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于能量法的半透明材料高温辐射率测量装置及扣除背景辐射的修正方法，涉及一种半透明材料高温法向光谱辐射率修正测试方法，属于高温测量材料物性技术领域。本发明是为了解决传统测试系统造价昂贵、温度加热上限低、测试精度较低的问题。它包括傅立叶红外光谱分析仪、参考黑体炉、可旋转反光镜、加热炉，加热器，温度采集装置，温度巡检操控仪、入射光源、数据处理系统、光阑和半透明试件；所述的加热炉内置有透光口、半透明试件的固定装置和温度采集装置；所述的入射光源发光口的中心轴线、加热炉的透光口的中心轴线、可旋转反光镜的镜面和参考黑体炉出光口的中心轴线与水平轴线共线。用于测量半透明材料表面的高温光谱法向辐射率。
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公开(公告)号：CN103344601A
公开(公告)日：2013-10-09
申请号：CN201310271945.2
申请日：2013-07-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/35
Abstract: 基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法，本发明涉及材料热物性测量领域，具体涉及一种半透明材料吸收系数测量方法。本发明为了解决现有的半透明材料吸收系数测量方法存在操作复杂，测量速度慢的问题。本发明是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的，本发明利用试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ，根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ，利用该试件材料的光谱吸收系数kaλ，对全光谱进行积分，获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR，并作为半透明材料吸收系数的测量结果，完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。本发明适用于半透明材料吸收系数测量。
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公开(公告)号：CN102564610A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110448155.8
申请日：2011-12-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于能量法的半透明材料高温辐射率测量装置及扣除背景辐射的修正方法，涉及一种半透明材料高温法向光谱辐射率修正测试方法，属于高温测量材料物性技术领域。本发明是为了解决传统测试系统造价昂贵、温度加热上限低、测试精度较低的问题。它包括傅立叶红外光谱分析仪、参考黑体炉、可旋转反光镜、加热炉，加热器，温度采集装置，温度巡检操控仪、入射光源、数据处理系统、光阑和半透明试件；所述的加热炉内置有透光口、半透明试件的固定装置和温度采集装置；所述的入射光源发光口的中心轴线、加热炉的透光口的中心轴线、可旋转反光镜的镜面和参考黑体炉出光口的中心轴线与水平轴线共线。用于测量半透明材料表面的高温光谱法向辐射率。
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公开(公告)号：CN103344601B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201310271945.2
申请日：2013-07-02
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N21/3563
Abstract: 基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量方法，本发明涉及材料热物性测量领域，具体涉及一种半透明材料吸收系数测量方法。本发明为了解决现有的半透明材料吸收系数测量方法存在操作复杂，测量速度慢的问题。本发明是基于傅立叶变换红外光谱分析仪实现的，本发明利用试件的光谱透过率τλ与该试件材料的反射率ρλ，根据贝尔定律计算获得该试件材料的光谱吸收系数kaλ，利用该试件材料的光谱吸收系数kaλ，对全光谱进行积分，获得普朗克平均吸收系数kap和罗斯兰德平均吸收系数kaR，并作为半透明材料吸收系数的测量结果，完成基于傅立叶变换红外光谱分析仪的半透明材料吸收系数测量。本发明适用于半透明材料吸收系数测量。
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公开(公告)号：CN103091252A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201310047855.5
申请日：2013-02-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于红外测温仪的材料发射率测量方法，属于高温不透明材料热物性测量技术领域；本发明是为了解决现有材料发射率测量方法的测量结果精确度差、使用复杂和测量速度慢的问题；本发明首先使用红外测温仪对黑体炉的温度进行测量，并通过计算得到红外测温仪接收的杂散辐射能，然后使用热电偶测温仪对待测材料所制成的试件表面温度进行测量，得到了试件表面的真实温度；本发明设计实现了在五种设定红外测温仪发射率条件下使用测量试件表面温度，得到五个测量温度值，利用五个设定发射率和五个测量温度值代入计算公式得到五个材料发射率，并取其平均值获得待测材料发射率，本发明主要应用在高温不透明材料发射率测量技术领域。
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