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公开(公告)号：CN109033556A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810726728.0
申请日：2018-07-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种结合工艺及可靠性框图的继电器类单机贮存可靠性评估方法，所述方法将从厂家调研的工艺数据注入到所建立的继电器有限元仿真模型中，得到其输出特性初始分布特性；通过分析继电器类单机实际出现的失效模式及失效机理，建立基于失效物理的退化模型，结合继电器初始分布特性及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的继电器输出特性退化模型；将失效阈值带入继电器输出特性退化模型中，得到继电器贮存可靠度数据，并带入所建立的继电器类单机贮存可靠性框图中，实现对继电器类单机贮存可靠度的评估。本发明解决了小子样问题下继电器类单机贮存可靠性评估准确度低的问题。
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公开(公告)号：CN108984882A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810726727.6
申请日：2018-07-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺及仿真的滚控电子模块贮存可靠性评估方法，所述方法首先通过建立滚控电子模块功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响滚控电子模块输出特性的底层关键元器件；然后结合失效模式及失效机理分析、输出特性参数初始分布及加速贮存退化试验实测数据，得到具有分布特性的底层关键元器件贮存退化数据，并将其注入滚控电子模块功能仿真模型中，得到滚控电子模块输出特性参数的贮存退化数据；最后利用最小二乘方法，得到滚控电子模块分布参数的退化轨迹，结合失效阈值，实现对滚控电子模块的贮存可靠性评估。本发明为滚控电子模块的贮存可靠性评估提供了一种新的思路。
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公开(公告)号：CN108984881A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810725454.3
申请日：2018-07-04
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种结合制造工艺及仿真的电子类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过EDA仿真模型及多物理场耦合模型对电子类单机进行描述，建立电子类单机功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响电子类单机输出特性参数的关键底层单元，并对其进行失效模式及失效机理分析，结合关键底层单元工艺数据及加速贮存试验中实测的贮存退化数据，建立关键底层单元贮存退化模型，将其带入电子类单机功能仿真模型中得到电子类单机输出特性参数的贮存退化数据，利用最小二乘方法得到电子类单机输出特性参数的贮存退化模型，带入失效阈值，完成电子类单机贮存可靠性评估。本发明为电子类单机的贮存可靠性评估提供了一种新的思路。
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公开(公告)号：CN105866666A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610178427.X
申请日：2016-03-25
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/327
CPC classification number: G01R31/3278
Abstract: 本发明公开了一种继电器类单机加速贮存试验测试装置，用于对多个继电器类单机进行加速贮存测试，每一继电器类单机均包括多个输入输出端子，其包括：多个恒温恒湿试验箱、智能报警系统、端子切换与控制电路、接触电阻测量电路、时间参数测量电路和上位机系统，其中：上位机系统分别与端子切换与控制电路和时间参数测量电路连接，上位机系统向端子切换与控制电路和时间参数测量电路发送参数设置命令、系统自检命令及开始测试命令；端子切换与控制电路连接在多个继电器类单机与接触电阻测量电路之间，接触电阻测量电路用于测试继电器类单机中每一个输入输出端子处的接触电阻值以及将测得的接触电阻值发送至上位机系统。
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公开(公告)号：CN107748826A
公开(公告)日：2018-03-02
申请号：CN201711092964.3
申请日：2017-11-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5009
Abstract: 一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法，属于继电器产品性能分析技术领域。根据继电器设计参数建立其触簧系统振动仿真模型；对触簧系统进行贮存退化试验，基于应力松弛理论建立触簧系统的贮存退化模型；将贮存退化模型进行离散化，并据此修改仿真模型实现触簧系统贮存退化注入，计算得到常闭触点间预压力值的退化情况；对实现退化注入的触簧系统振动仿真模型进行模态分析与频率响应分析，确定其谐振频率及对应接触力响应值的退化情况；比较对应于不同贮存时间的预压力值与接触力响应值，判断继电器的耐力学性能是否满足要求，实现继电器耐力学性能贮存退化分析。本发明能够解决在设计阶段无法给出长贮过程中继电器耐力学性能变化情况的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107102230A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710386328.5
申请日：2017-05-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/003
Abstract: 本发明提供一种针对密封电子模块的耐环境可靠性分析方法，包括以下步骤：S1：向所述密封电子模块施加随机振动应力，激发所述密封电子模块在振动应力下可能出现的故障模式；S2：监视所述密封电子模块受到的振动应力的分布情况，寻找所述密封电子模块的力学薄弱点，分析故障原因；S3：依据所述密封电子模块的随机振动应力确定其应力集中的区域，针对所述区域进行Saber电路仿真分析，以确定故障发生的具体位置；S4：采用故障注入试验的方法验证上述仿真分析的正确性；S5：完成针对所述密封电子模块的耐环境可靠性分析。
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公开(公告)号：CN114912265B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210489673.2
申请日：2022-05-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F111/08 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器可靠性建模方法，所述方法包括如下步骤：一：建立温度应力作用下，薄膜老化过程模型；二：建立金属化薄膜电容器随机自愈过程模型；三：建立定量结合多退化机理的退化模型；四：根据金属化薄膜电容器的实际使用需求，给定容值的失效阈值D，推导得到定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器的可靠性模型；五：利用极大似然估计得到未知参数的估计值；将各未知参数估计值代入可靠性模型中，即可实现金属化薄膜电容器的可靠性建模与评估。本发明解决了在金属化薄膜电容器可靠性建模与评估的相关研究中，未曾定量结合多退化机理，进而导致其可靠性建模与评估结果缺乏准确性的问题。
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公开(公告)号：CN114792053B
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210459927.6
申请日：2022-04-24
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 一种基于初值‑速率相关退化模型的可靠性评估方法，涉及一种可靠性评估方法。对电子元器件产品开展退化试验，采集退化数据；针对产品的特征参数建立考虑初值与退化速率相关性的退化模型；建立退化模型对应的对数似然函数，确定退化模型中的时间尺度函数形式，并利用极大似然方法估计退化模型中的待定参数；将待定参数估计值代入可靠度函数解析式，得到可靠度函数实现对产品的可靠性评估。将性能参数初值与退化速率的相关性引入电子元器件产品的可靠性评估当中，能够有效提高评估结果的准确度。
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公开(公告)号：CN114925510A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210489677.0
申请日：2022-05-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种带有自适应交互作用项的多应力加速模型构建方法，所述方法构建了一种带有自适应交互作用项的多应力加速模型，首先根据各加速应力单独作用时产品的物理老化规律确定多应力加速模型中各加速应力的主效应项；然后，将多应力加速模型中的交互作用项量化表征为其他加速应力对当前主效应的影响，并将各主效应项中的特定参数表达为其他多应力变量的函数，其具体函数形式可由极大似然估计过程自适应优化获取，解决了多应力交互作用无法准确量化描述的问题，同时增强了该模型与各类加速试验数据匹配的灵活性和适用性，为产品可靠性评价以及服役过程中的维修策略制定提供重要支撑。
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公开(公告)号：CN114912265A
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210489673.2
申请日：2022-05-06
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F30/20 , G06F111/08 , G06F119/02 , G06F119/04 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器可靠性建模方法，所述方法包括如下步骤：一：建立温度应力作用下，薄膜老化过程模型；二：建立金属化薄膜电容器随机自愈过程模型；三：建立定量结合多退化机理的的退化模型；四：根据金属化薄膜电容器的实际使用需求，给定容值的失效阈值D，推导得到定量结合多退化机理的金属化薄膜电容器的可靠性模型；五：利用极大似然估计得到未知参数的估计值；将各未知参数估计值代入可靠性模型中，即可实现金属化薄膜电容器的可靠性建模与评估。本发明解决了在金属化薄膜电容器可靠性建模与评估的相关研究中，未曾定量结合多退化机理，进而导致其可靠性建模与评估结果缺乏准确性的问题。
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