-
公开(公告)号：CN106023082A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
-
公开(公告)号：CN105547485B
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201510889296.1
申请日：2015-12-04
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将调制激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。本发明实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
-
公开(公告)号：CN105571741A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510889096.6
申请日：2015-12-04
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01K11/00
CPC分类号： G01K11/00
摘要： 基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将连续激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明能够实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
-
公开(公告)号：CN106023082B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201610348998.3
申请日：2016-05-24
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。
-
公开(公告)号：CN105319174B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201510907097.9
申请日：2015-12-09
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 同时获取半透明材料温变导热系数及吸收系数的测量方法，涉及同时获取半透明介质温度相关导热系数及吸收系数技术。测量过程中使用某波长连续激光照射待测样品，借助探测器测量待测样本的随时间变化的温度响应以及透射辐射强度，最后通过逆问题求解技术间接得到待测样品随温度变化的导热系数及吸收系数。本发明通过建立导热系数及吸收系数随温度变化的半透明介质导热辐射耦合换热的正、反问题模型，在介质其他参数已知的前提下，提出了采用微粒群优化算法同时反演得到半透明介质温度相关导热系数及吸收系数的方法。本发明适用于航天、国防和民用工业。
-
公开(公告)号：CN105571741B
公开(公告)日：2018-06-12
申请号：CN201510889096.6
申请日：2015-12-04
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与连续激光的火焰温度泛尺度光场探测方法利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将连续激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明能够实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
-
公开(公告)号：CN105547469B
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201510889073.5
申请日：2015-12-04
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01J1/42
摘要： 基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与脉冲激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将脉冲激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。通过本发明的仿真计算，可实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
-
公开(公告)号：CN106018286B
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N21/17
摘要： 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
-
公开(公告)号：CN106018286A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610330924.7
申请日：2016-05-18
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N21/17
CPC分类号： G01N21/17 , G01N2021/1734
摘要： 基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。
-
公开(公告)号：CN105547485A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510889296.1
申请日：2015-12-04
申请人： 哈尔滨工业大学
CPC分类号： G01J5/0018 , G01J5/10
摘要： 基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，涉及高温热辐射测量技术领域。本发明是为了适应火焰光场探测中对于泛尺度分析的需求。本发明所述的基于微透镜阵列与调制激光的火焰温度泛尺度光场探测方法，利用具有微透镜阵列的光场相机获取高温火焰不同方向上的辐射强度信息，通过将调制激光照射到火焰上，由探测器接收到的介质边界上的出射光谱辐射强度通过逆问题求解得到介质的光谱辐射特性参数，结合火焰自身的出射辐射强度重建出高温火焰的三维温度场。本发明实现对高温火焰的辐射特性参数和温度场的重建，并为光场相机的标定、测量等工作提供理论基础。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
12 条记录 (耗时 0.024 秒)