一种IGBT最小死区时间的试验确定方法

    公开(公告)号:CN113937996A

    公开(公告)日:2022-01-14

    申请号:CN202111207972.4

    申请日:2021-10-18

    IPC分类号: H02M1/38

    摘要: 本发明提出一种IGBT最小死区时间的试验确定方法,包括:在空载情况下给上IGBT和下IGBT施加控制信号,将两控制信号的死区时间逐渐减小,直至出现直通电流,此时的两控制信号的死区时间即为空载下的最小死区时间T死区‑空载;在带载运行工况下,按照所需负载,给被试单元的上IGBT T1、下IGBT T2,陪试单元的上IGBT T3、下IGBT T4施加控制信号,逐渐减小死区时间,直至出现上IGBT T1的电流IT1、下IGBT T2的电流IT2都有异常的直通电流,记录此时两控制信号的死区时间为T死区‑带载;考虑安全裕量,计算实际使用死区时间:T死区=A*Max(T死区‑空载,T死区‑带载);利用直接试验的手段测试出最小死区时间,进而设置最合理的死区时间,以解决上述背景技术中存在的问题。

    通过EIS阻抗谱判断电池老化路径是否改变的评估方法

    公开(公告)号:CN118311463A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202410471841.4

    申请日:2024-04-19

    IPC分类号: G01R31/392 G01R31/389

    摘要: 本发明公开了一种通过EIS阻抗谱判断电池老化路径是否改变的评估方法,能够用于判断电池在长时间循环后的老化路径是否发生变化,解决使用现有的老化路径判断方法准确度不高的问题。本发明使用EIS电化学阻抗谱进行分析,避开了传统拆电池取样验证老化路径是否发生变化的方法。同时,该方法具有高灵敏度和宽频率范围可以更加精确的检测电池内部发生的衰减机理。本发明提出的多电池多工况连续测试的方法,可以准确的检测影响电池衰减老化的某一单独因素影响程度的大小,从而可以更加精准的判断出导致电池内部老化路径发生变化的主要影响因素。原理简单,易于实现,可以在实际应用中,对电池进行在线监测和评估,而无需中断其正常运行。