一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法

    公开(公告)号:CN104579509A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410767531.3

    申请日:2014-12-11

    IPC分类号: H04B17/15 H04B17/29

    摘要: 本发明公开了一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法。该装置包括至少一个被测设备接口和多个基站接口,所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接,所述衰减器包括至少一个可调衰减器。将各同轴开关置于关的位置;将被测设备连接到被测设备接口,将多个基站分别连接到各基站接口;使要测试的基站与被测设备之间的链路接通;调整各基站与被测设备之间链接上的可调衰减器,模拟出基站与被测设备之间信号强度的变化,使被测设备在各基站之间切换,完成IOT测试。本发明提高了测试准确度和测试效率,且实现简单、操作方便、成本低,而且还能对测试仪表进行必要的保护,避免因过热射频功率、直流瞬时和静电放电(ESD)而受到损坏。

    用于型号核准LTE终端测试的射频链路切换装置

    公开(公告)号:CN103746759A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201410015270.X

    申请日:2014-01-13

    IPC分类号: H04B17/00 H04M1/24

    摘要: 本发明公开了一种用于型号核准LTE终端测试的射频链路切换装置,其中包括:一号箱,其用于测试指标的功能性链路搭建,其中包括至少一个同轴开关,衰减器,功分器,环形器,单向器以及阻抗匹配电阻;二号箱,其用于对信号进行滤波和衰减处理;其中信号经由所述一号箱的相关链路处理后,进入所述二号箱,根据测试指标和测试项的不同要求,选择相应的滤波器和衰减器进行滤波和衰减处理,再将处理过后的所述信号返回到所述一号箱继续进行链路传播。本发明所公开的射频链路切换装置能够将所有型号核准终端指标的测试链路进行系统集成,提高测试准确度和测试效率的同时保护仪表不受损,并且增强了对未来型号核准LTE终端测试的可扩展性。

    一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法

    公开(公告)号:CN104579509B

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201410767531.3

    申请日:2014-12-11

    IPC分类号: H04B17/15 H04B17/29

    摘要: 本发明公开了一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法。该装置包括至少一个被测设备接口和多个基站接口,所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接,所述衰减器包括至少一个可调衰减器。将各同轴开关置于关的位置;将被测设备连接到被测设备接口,将多个基站分别连接到各基站接口;使要测试的基站与被测设备之间的链路接通;调整各基站与被测设备之间链接上的可调衰减器,模拟出基站与被测设备之间信号强度的变化,使被测设备在各基站之间切换,完成IOT测试。本发明提高了测试准确度和测试效率,且实现简单、操作方便、成本低,而且还能对测试仪表进行必要的保护,避免因过热射频功率、直流瞬时和静电放电(ESD)而受到损坏。

    数字信号处理器控制的GPIB综合射频测试系统

    公开(公告)号:CN103051395A

    公开(公告)日:2013-04-17

    申请号:CN201210516149.6

    申请日:2012-12-06

    IPC分类号: H04B17/00

    摘要: 一种数字信号处理器控制的GPIB综合射频测试系统,包括一个微处理器PowerPC、GPIB总线、6级同轴开关、第一高通滤波器、第二高通滤波器、低通滤波器、第一陷波器、第二陷波器、第三陷波器、第四陷波器、第五陷波器、第六陷波器、第七陷波器、第一放大器和第二放大器组成;该综合射频测试系统克服了在射频终端设备进行测试过程中,不同测试项目需要不同信号处理路径的问题,可将所有核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路进行系统集成,避免了手动测试带来的误差,提高了测试准确度和测试效率。

    一种基于GPIB总线的射频切换单元集成控制系统

    公开(公告)号:CN102495603A

    公开(公告)日:2012-06-13

    申请号:CN201110413858.7

    申请日:2011-12-13

    IPC分类号: G05B19/418

    CPC分类号: Y02P90/02

    摘要: 本发明属于测试领域,具体说是涉及一种基于GPIB总线的射频切换单元集成控制系统,其特征是:是由硬件设计集成电路与软件设计自动测试系统程序集成组成;所述的硬件设计集成电路,是由射频自动控制系统下位机控制单元模块与射频自动控制系统上位机控制模块组成;所述的软件设计自动测试系统程序,是由射频自动控制系统下位机控制单元模块软件设计与射频自动控制系统上位机控制模块软件设计组成;是一款结构紧凑的经济型系统,解决和克服了在对射频终端设备进行测试过程中,需要手动搭载射频链路以满足测试要求的问题,实现了射频链路的自动切换,消除了因人为引入的干扰或泄露而增加测试误差,同时通过人机交互界面有助于测试,提高检测效率。