一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法

    公开(公告)号:CN107884736B

    公开(公告)日:2019-12-17

    申请号:CN201711092812.3

    申请日:2017-11-08

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法,校验系统包括信号发生器、第一双轴位移平台、声源、十字激光器、待测传感器、参考传感器和数据采集单元;信号发生器的信号输出端与声源的信号输入端相连接;声源和十字激光器固定设置在第一双轴位移平台上;待测传感器和参考传感器的信号输出端分别与数据采集单元的信号输入端相连接,待测传感器和参考传感器的接收面相对声源的出声口布置,待测传感器和参考传感器的接收面与声源的出声口之间的距离均大于17cm。本发明的非接触式局部放电超声传感器校验系统可准直定位。本发明的测试方法用于校验系统的测试,可提高校验的精确度。

    一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法

    公开(公告)号:CN107884736A

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201711092812.3

    申请日:2017-11-08

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种非接触式局部放电超声传感器校验系统及测试方法,校验系统包括信号发生器、第一双轴位移平台、声源、十字激光器、待测传感器、参考传感器和数据采集单元;信号发生器的信号输出端与声源的信号输入端相连接;声源和十字激光器固定设置在第一双轴位移平台上;待测传感器和参考传感器的信号输出端分别与数据采集单元的信号输入端相连接,待测传感器和参考传感器的接收面相对声源的出声口布置,待测传感器和参考传感器的接收面与声源的出声口之间的距离均大于17cm。本发明的非接触式局部放电超声传感器校验系统可准直定位。本发明的测试方法用于校验系统的测试,可提高校验的精确度。