磁控式高抗本体测试方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109188085A

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201811057048.0

    申请日:2018-09-11

    摘要: 本发明实施例提供的一种磁控式高抗本体测试方法,获取待测试的磁控式高抗本体,所述磁控式高抗本体包括:第一绕组模块、第二绕组模块、第三绕组模块和铁芯。所述第一绕组模块包括第一高压工作绕组、第一励磁绕组和第二励磁绕组;所述第二绕组模块包括第二高压工作绕组、第三励磁绕组和第四励磁绕组;所述第三绕组模块包括第三高压工作绕组、第五励磁绕组和第六励磁绕组。通过对磁控式高抗本体的第一绕组模块、第二绕组模块、第三绕组模块和铁芯,分别进行绝缘电阻测试、绕组电阻测试、联结组号测试、交流耐压测试、直流电阻测试,获得测试结果。得到的测试结果与电气设备交接标准对比,相差小于规定阈值,则磁控式高抗本体符合设备安全要求。