一种基于代码片段分析的混合深度缺陷预测方法

    公开(公告)号:CN112035345A

    公开(公告)日:2020-12-04

    申请号:CN202010860365.7

    申请日:2020-08-25

    IPC分类号: G06F11/36 G06N3/04 G06N3/08

    摘要: 本发明涉及一种基于代码片段分析的混合深度缺陷预测方法,属于计算机软件缺陷预测技术领域。本方法,首先基于缺陷库关键点的程序切片方法,将包含缺陷的开源软件代码单元集向量化,将特征表示成深度学习模型能够处理的向量形式。然后,基于混合深度学习的缺陷预测方法,提高混合深度模型的分类、预测能力,训练得到缺陷预测分类器。最后,基于训练好的缺陷预测分类器,对开源软件进行缺陷预测,将目标代码片段分类输出。本方法以预先设计的缺陷库关键点为程序切片的切入点,从开源代码中提取包含缺陷特征的代码片段并向量化表示,基于多种深度学习方法获取混合模型,能够有效提升模型的数据处理能力和自动学习能力。

    一种信息系统可靠性的检验方法及装置

    公开(公告)号:CN109412894B

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN201811295934.7

    申请日:2018-11-01

    IPC分类号: H04L12/26 H04L12/24

    摘要: 本发明公开了一种信息系统可靠性的检验方法及装置,将信息系统中的所有系统节点依次作为目标节点,并将目标节点设为故障状态,目标节点之外的所有系统节点设为正常运行状态;判断每一个系统节点作为目标节点时,信息系统的系统功能是否异常;若在所有系统节点依次作为目标节点时,信息系统的系统功能均无异常,则判定信息系统中不存在单点隐患;若在所有系统节点依次作为目标节点时,信息系统的系统功能出现异常,则判定信息系统中存在单点隐患。本发明通过自行设定故障节点来判断系统功能是否会出现异常的方式,排查信息系统中的单点隐患,以检验信息系统的可靠性,相比于采用人工检验信息系统可靠性的方式,极大的提高了检验效率和准确性。

    一种信息系统可靠性的检验方法及装置

    公开(公告)号:CN109412894A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201811295934.7

    申请日:2018-11-01

    IPC分类号: H04L12/26 H04L12/24

    摘要: 本发明公开了一种信息系统可靠性的检验方法及装置,将信息系统中的所有系统节点依次作为目标节点,并将目标节点设为故障状态,目标节点之外的所有系统节点设为正常运行状态;判断每一个系统节点作为目标节点时,信息系统的系统功能是否异常;若在所有系统节点依次作为目标节点时,信息系统的系统功能均无异常,则判定信息系统中不存在单点隐患;若在所有系统节点依次作为目标节点时,信息系统的系统功能出现异常,则判定信息系统中存在单点隐患。本发明通过自行设定故障节点来判断系统功能是否会出现异常的方式,排查信息系统中的单点隐患,以检验信息系统的可靠性,相比于采用人工检验信息系统可靠性的方式,极大的提高了检验效率和准确性。

    一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机

    公开(公告)号:CN111722655B

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202010772101.6

    申请日:2020-08-04

    IPC分类号: G05D23/19 H04B10/073

    摘要: 本申请公开了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机,其中,所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机喷射标准温度气体对待测光模块进行温度控制,且由于多路输出模块可以将标准温度气体分为多路,这使得所述冷热冲击试验机配合所述多路输出模块可以同时对多个待测光模块进行温度控制,呈几何倍数地缩短将待测光模块的温度调控为标准温度的时间,有利于提高对待测光模块的调测效率,同时一个冷热冲击试验机可同时对多个待测光模块进行温度控制,在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机,有利于降低对待测光模块进行调测时的调测成本。

    一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机

    公开(公告)号:CN111722655A

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN202010772101.6

    申请日:2020-08-04

    IPC分类号: G05D23/19 H04B10/073

    摘要: 本申请公开了一种光模块调测系统、光模块调测方法及上位机,其中,所述光模块调测系统通过冷热冲击试验机喷射标准温度气体对待测光模块进行温度控制,且由于多路输出模块可以将标准温度气体分为多路,这使得所述冷热冲击试验机配合所述多路输出模块可以同时对多个待测光模块进行温度控制,呈几何倍数地缩短将待测光模块的温度调控为标准温度的时间,有利于提高对待测光模块的调测效率,同时一个冷热冲击试验机可同时对多个待测光模块进行温度控制,在提高调测效率的同时无需增加昂贵的冷热冲击试验机,有利于降低对待测光模块进行调测时的调测成本。