公开(公告)号：CN105095750B

公开(公告)日：2019-04-12

申请号：CN201410206981.5

申请日：2014-05-15

申请人： 国民技术股份有限公司

发明人： 王明东 ,  张翌维 ,  邹晓坤 ,  朱凯 ,  杨坤

IPC分类号： G06F21/55

摘要： 本发明提供一种对智能卡芯片所受攻击的分析方法及装置。该分析方法包括：启动智能卡芯片，以使智能卡芯片的算法处于运行状态；基于侧信道分析，获取算法在智能卡芯片上运行的位置以及算法运行的关键时刻点；基于错误注入分析，在位置处和关键时刻点时对算法的运行过程引入错误以发起错误攻击，获取并分析发起错误攻击后算法运行的密文数据，以据此对攻击进行防护。通过上述方式，本发明结合侧信道攻击和错误注入攻击，从时间和空间上对攻击进行精确控制，能够控制错误注入的精度，降低攻击及分析成本，提高分析效率和成功率，并以此实现对攻击的有效防护。

公开(公告)号：CN105095750A

公开(公告)日：2015-11-25

申请号：CN201410206981.5

申请日：2014-05-15

申请人： 国民技术股份有限公司

发明人： 王明东 ,  张翌维 ,  邹晓坤 ,  朱凯 ,  杨坤

IPC分类号： G06F21/55

摘要： 本发明提供一种对智能卡芯片所受攻击的分析方法及装置。该分析方法包括：启动智能卡芯片，以使智能卡芯片的算法处于运行状态；基于侧信道分析，获取算法在智能卡芯片上运行的位置以及算法运行的关键时刻点；基于错误注入分析，在位置处和关键时刻点时对算法的运行过程引入错误以发起错误攻击，获取并分析发起错误攻击后算法运行的密文数据，以据此对攻击进行防护。通过上述方式，本发明结合侧信道攻击和错误注入攻击，从时间和空间上对攻击进行精确控制，能够控制错误注入的精度，降低攻击及分析成本，提高分析效率和成功率，并以此实现对攻击的有效防护。

公开(公告)号：CN105182207A

公开(公告)日：2015-12-23

申请号：CN201410242091.X

申请日：2014-05-30

申请人： 国民技术股份有限公司

发明人： 朱凯 ,  陈少伟 ,  谭锐能 ,  张梦良 ,  王明东

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明属于芯片的测试技术领域，提供了一种芯片错误注入的测试方法及装置。所述方法包括：将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；若相同，则对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试；若不相同，则记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率。本发明通过所述对测试数据组进行更改，增加了安全芯片在错误注入后的出错类型，从而提高了对安全芯片的安全性评估的准确性。

公开(公告)号：CN105182207B

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：CN201410242091.X

申请日：2014-05-30

申请人： 国民技术股份有限公司

发明人： 朱凯 ,  陈少伟 ,  谭锐能 ,  张梦良 ,  王明东

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明属于芯片的测试技术领域，提供了一种芯片错误注入的测试方法及装置。所述方法包括：将测试数据组输入到待检测芯片的存储区中；在待检测芯片运行过程中对其进行错误注入；读取错误注入后的测试数据组，判断所述错误注入后的测试数据组与输入的测试数据组是否相同；若相同，则对所述存储区中的测试数据组进行更改，并将更改后的测试数据组重新输入到待检测芯片的存储区中，以重新进行错误注入测试；若不相同，则记录芯片的告警情况，以计算芯片的漏报率。本发明通过所述对测试数据组进行更改，增加了安全芯片在错误注入后的出错类型，从而提高了对安全芯片的安全性评估的准确性。

公开(公告)号：CN203918235U

公开(公告)日：2014-11-05

申请号：CN201420292077.6

申请日：2014-06-03

申请人： 国民技术股份有限公司

发明人： 李景涛 ,  樊俊锋 ,  王明东 ,  朱凯 ,  杨坤

IPC分类号： B23K26/362

摘要： 本实用新型公开了一种激光刻蚀装置及系统。该激光刻蚀装置包括：芯片，载物平台，光谱分析仪器及可调谐激光器。其中，载物平台用于承载芯片；光谱分析仪器用于检测芯片的待刻蚀信息；可调谐激光器根据待刻蚀层信息对芯片的待刻蚀层进行刻蚀。通过上述方式，本实用新型能能够实现对芯片的待刻蚀层进行自动刻蚀。