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公开(公告)号：CN117309194A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311437023.4
申请日：2023-10-31
Applicant: 国电南瑞科技股份有限公司
IPC: G01K15/00 , G01K7/16 , G05B19/042
Abstract: 本发明公开了一种RTD测量模块的出厂校准系统及方法，包括：出厂校准模块和待校准的RTD测量模块；出厂校准模块至少包括：第一校准电阻、第二校准电阻、第一模拟开关、第二模拟开关、第三模拟开关和MCU单元；所述第一模拟开关与第一校准电阻串联，所述第二模拟开关与第二校准电阻串联，且第三模拟开关、串联的第一模拟开关和第一校准电阻、串联的第二模拟开关和第二校准电阻相互并联；待校准的RTD测量模块至少包括：校准参考电阻RREF、MCU单元、PGA、ADC、EEPROM、第一恒流源和第二恒流源；出厂校准模块中的MCU单元和出厂校准模块中的MCU单元配合，实现线性拟合和双恒流源匹配度校准。
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