主机开放端口审计的方法和系统

    公开(公告)号:CN105490866A

    公开(公告)日:2016-04-13

    申请号:CN201410482653.8

    申请日:2014-09-19

    IPC分类号: H04L12/26 H04L29/12

    摘要: 本发明公开了一种主机开放端口审计的方法和系统,其中方法包括如下步骤:对一个或多个网络内的主机进行扫描配置,设置扫描方式;根据扫描配置,对一个或多个网络内的主机进行扫描,获取相应的扫描结果;收集扫描结果,并将扫描结果导入数据库中;对扫描结果进行分析处理,获取扫描信息,并生成扫描信息报表;其中,扫描方式包括快速扫描、精确扫描、及全面扫描。其通过设置开放端口的扫描方式为快速扫描、精确扫描或全面扫描,从而根据不同的扫描方式对一个或多个网络内的主机进行扫描,具有多重选择性,扩展了开放端口的审计方法。有效地解决了现有的网络中大量主机开放端口审计时,方法单一,灵活性较差,具有一定的限制性的问题。

    一种多路纤芯测试装置及方法

    公开(公告)号:CN104485990A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201410720243.2

    申请日:2014-12-02

    IPC分类号: H04B10/071

    摘要: 本发明提供一种多路纤芯测试装置及方法,该装置包括:脉冲发生器、光源、光路开关、定向耦合器、光电检测器、信号处理装置、MCU芯片及主时钟;所述的光路开关设有多个光传输端口,每一光传输端口连接一备用光纤;脉冲发生器产生电脉冲信号,并发送至光源;光源将电脉冲信号转换为光脉冲信号,通过定向耦合器发送至光路开关;光路开关连接对应光传输端口的备用光纤,将光脉冲信号传送给该备用光纤并接收回馈的光信号,通过定向耦合器传输至光电检测器;光电检测器将光信号转换为电信号,输出至信号处理装置;信号处理装置根据电信号生成发光强度-距离性能曲线,传输至MCU芯片;MCU芯片根据该性能曲线对备用光纤的性能参数进行比对,生成测试结果。