放电检测装置及方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117192311B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202311460417.1

    申请日:2023-11-06

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明提供了一种放电检测装置及方法,可以应用于放电检测技术领域。该装置包括:电磁耦合检测模块,配置为对待检测设备进行电压检测得到第一电压信号,根据第一电压信号确定第一输出信号;电磁波检测模块,配置为对待检测设备进行高频电磁波检测得到高频电磁波信号,根据高频电磁波信号确定第二输出信号;振动检测模块,配置为对待检测设备进行振动检测得到振动信号,根据振动信号确定第三输出信号;数据处理模块,配置为生成检测启动信号;超声波检测模块,配置为对待检测设备进行超声波检测,得到超声波检测数据;特高频检测模块,配置为对待检测设备进行特高频电磁波检测,得到特高频电磁波检测数据。

    放电检测装置及方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117192311A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311460417.1

    申请日:2023-11-06

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明提供了一种放电检测装置及方法,可以应用于放电检测技术领域。该装置包括:电磁耦合检测模块,配置为对待检测设备进行电压检测得到第一电压信号,根据第一电压信号确定第一输出信号;电磁波检测模块,配置为对待检测设备进行高频电磁波检测得到高频电磁波信号,根据高频电磁波信号确定第二输出信号;振动检测模块,配置为对待检测设备进行振动检测得到振动信号,根据振动信号确定第三输出信号;数据处理模块,配置为生成检测启动信号;超声波检测模块,配置为对待检测设备进行超声波检测,得到超声波检测数据;特高频检测模块,配置为对待检测设备进行特高频电磁波检测,得到特高频电磁波检测数据。

    一种光电探测装置的参数配合和优化方法

    公开(公告)号:CN114089128A

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202111298013.8

    申请日:2021-11-04

    IPC分类号: G01R31/12 G01M11/00

    摘要: 本发明涉及一种光电探测装置的参数配合和优化方法,其技术特点是:选取光电探测装置的关键参数,计算由未引起荧光效应的入射光强度和荧光激发强度两部分组成的荧光发射光谱约化强度,计算反应光电倍增器与耦合光子的光谱匹配程度的光电转换光谱匹配效率,计算荧光光纤局部放电检测系统光电单元在波长λ1到λ2的综合效率,计算光电器件的信噪比SNR:通过比对荧光光纤局部放电检测系统光电单元的综合效率得到不同光电倍增器与耦合光子的光谱匹配效率程度。本发明可用于荧光光纤局部放电检测系统的开发、参数优化,实现不同光电倍增器与耦合光子的光谱匹配效率计算,辅助计算提高光电器件的信噪比,适用于电力设备状态监测和故障诊断领域。