一种污秽化合物识别方法和装置

    公开(公告)号:CN113406059B

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202110646759.7

    申请日:2021-06-10

    摘要: 一种污秽化合物识别方法和装置,该方法包括如下步骤:S1、利用激光诱导击穿光谱技术(LIBS)在污秽样品表面产生等离子体;S2、收集等离子体得到光谱数据;S3、对光谱数据进行处理和分析,得到污秽中的元素种类并将元素谱线特征量代入定标模型中,获得离子浓度;S4、根据离子浓度进行阴阳离子的配对;当阴阳离子的种类数大于2时,进行FCM聚类分析;当聚类的类别中出现多种配对情况时,进行各阴阳离子间的马氏距离计算,马氏距离短者优先配对;将已完成配对离子的相关数据剔除,重复配对过程直至剩余的阴阳离子种类数小于等于2,得到配对结果。本发明利用LIBS,结合改进FCM聚类算法分析得到绝缘子表面污秽的化合物成分信息,检测周期短,检测结果准确性高。

    一种绝缘子葡萄糖污秽的鉴别及定量分析方法

    公开(公告)号:CN113030066A

    公开(公告)日:2021-06-25

    申请号:CN202110213232.5

    申请日:2021-02-25

    IPC分类号: G01N21/73 G01R31/12

    摘要: 本发明公开了一种绝缘子葡萄糖污秽的鉴别及定量分析方法,所述鉴别方法包括以下步骤:S1、利用LIBS,分别用脉冲激光光束照射若干绝缘子样品表面的污秽,获得各绝缘子样品的等离子体特征光谱数据;S2、在等离子体特征光谱数据中,将全谱数据的平均值作为训练样本,输入BP神经网络进行训练识别,得到训练后的BP神经网络;S3、使用LIBS,用相同参数的脉冲激光光束照射待测绝缘子表面的污秽,并获得待测绝缘子的等离子体特征光谱数据;S4、将全谱数据的平均值输入训练后的BP神经网络,根据得到的输出值来鉴别待测绝缘子是否含葡萄糖污秽。本发明的方法可以实时、在线、快速地确定绝缘子表面的污秽类型,并进而确定葡萄糖污秽的含量。

    一种绝缘子污秽度的测试方法

    公开(公告)号:CN112945942B

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202110143617.9

    申请日:2021-02-02

    IPC分类号: G01N21/73

    摘要: 本发明公开了一种绝缘子污秽度的测试方法,包括以下步骤:S1、利用LIBS,用脉冲激光光束照射若干绝缘子样品表面的污秽,获得各绝缘子样品的等离子体特征光谱数据;S2、根据Na元素的特征谱线强度,建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值盐密值的定标关系;S3、根据Al元素的特征谱线强度,建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值灰密值的定标关系;S4、使用LIBS,用相同参数的脉冲激光光束照射待测绝缘子表面的污秽,获得待测绝缘子的等离子体特征光谱数据;S5、分别利用定标关系,确定待测绝缘子的等值盐密值和等值灰密值;S6、确定待测绝缘子表面的污秽度。本发明可以实时、在线、快速地检测绝缘子表面的污秽度,测量结果符合现有电力行业标准规定。

    一种污秽化合物识别方法和装置

    公开(公告)号:CN113406059A

    公开(公告)日:2021-09-17

    申请号:CN202110646759.7

    申请日:2021-06-10

    IPC分类号: G01N21/71 G06K9/62

    摘要: 一种污秽化合物识别方法和装置,该方法包括如下步骤:S1、利用激光诱导击穿光谱技术(LIBS)在污秽样品表面产生等离子体;S2、收集等离子体得到光谱数据;S3、对光谱数据进行处理和分析,得到污秽中的元素种类并将元素谱线特征量代入定标模型中,获得离子浓度;S4、根据离子浓度进行阴阳离子的配对;当阴阳离子的种类数大于2时,进行FCM聚类分析;当聚类的类别中出现多种配对情况时,进行各阴阳离子间的马氏距离计算,马氏距离短者优先配对;将已完成配对离子的相关数据剔除,重复配对过程直至剩余的阴阳离子种类数小于等于2,得到配对结果。本发明利用LIBS,结合改进FCM聚类算法分析得到绝缘子表面污秽的化合物成分信息,检测周期短,检测结果准确性高。

    一种绝缘子污秽度的测试方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112945942A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN202110143617.9

    申请日:2021-02-02

    IPC分类号: G01N21/73

    摘要: 本发明公开了一种绝缘子污秽度的测试方法,包括以下步骤:S1、利用LIBS,用脉冲激光光束照射若干绝缘子样品表面的污秽,获得各绝缘子样品的等离子体特征光谱数据;S2、根据Na元素的特征谱线强度,建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值盐密值的定标关系;S3、根据Al元素的特征谱线强度,建立绝缘子样品的特征谱线强度与等值灰密值的定标关系;S4、使用LIBS,用相同参数的脉冲激光光束照射待测绝缘子表面的污秽,获得待测绝缘子的等离子体特征光谱数据;S5、分别利用定标关系,确定待测绝缘子的等值盐密值和等值灰密值;S6、确定待测绝缘子表面的污秽度。本发明可以实时、在线、快速地检测绝缘子表面的污秽度,测量结果符合现有电力行业标准规定。

    一种吸湿性污秽磷酸铝的检测方法

    公开(公告)号:CN111044505A

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201911284267.7

    申请日:2019-12-13

    IPC分类号: G01N21/73 G01N1/28

    摘要: 一种吸湿性污秽磷酸铝的检测方法,包括以下步骤:S1、准备含不同质量分数磷酸铝的电气设备绝缘表面污秽样品,并得到各污秽样品中磷酸铝的质量分数;S2、使用激光诱导击穿光谱方法获得等离子体特征光谱数据;S3、建立等离子体特征光谱数据与污秽样品中磷酸铝的质量分数的定标关系;S4、用相同参数的脉冲激光光束照射待测电气设备绝缘表面污秽,并获得待测电气设备绝缘表面污秽的等离子体特征光谱数据;S5、利用所述定标关系,确定待测电气设备绝缘表面污秽中磷酸铝的质量分数。本发明能够以带电在线方式快速、直接测定电气设备绝缘表面吸湿性污秽磷酸铝的含量,实时地、准确地判断电气设备运行状态,有效地预防放电、沿面闪络等严重事故的发生。

    一种磷酸铝污秽含水量的检测方法

    公开(公告)号:CN111044506A

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201911284311.4

    申请日:2019-12-13

    IPC分类号: G01N21/73 G01N1/28

    摘要: 一种磷酸铝污秽含水量的检测方法,包括以下步骤:S1、准备不同含水量的电气设备绝缘表面磷酸铝污秽样品,并得到各污秽样品中的含水量;S2、用脉冲激光光束照射各污秽样品,并获得不同含水量的污秽样品的等离子体特征光谱数据;S3、建立不同含水量的污秽样品的等离子体特征光谱数据与污秽样品含水量的定标关系;S4、用相同参数的脉冲激光光束照射待测电气设备绝缘表面污秽,并获得待测污秽的等离子体特征光谱数据;S5、根据待测污秽的等离子体特征光谱数据,利用所述定标关系,确定待测电气设备绝缘表面污秽中的含水量。本发明能实现对电气设备绝缘表面磷酸铝污秽含水量的实时、在线、快速检测,有效地预防放电、沿面闪络等严重事故的发生。