一种基于AD采样的测量装置精度补偿方法

    公开(公告)号:CN116539174A

    公开(公告)日:2023-08-04

    申请号:CN202210092342.5

    申请日:2022-01-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于AD采样的测量装置精度补偿方法,包括:将测量装置放入烤箱并接入自动化测试系统;调节烤箱温度并触发测试仪输出模拟量信号,测量装置根据模拟量信号计算出测量结果,连同装置内部运行温度一起传给自动化测试系统;自动化测试系统根据测量结果计算出补偿系数,连同装置内部运行温度一起形成一条补偿系数记录;重复调节烤箱温度得到不同运行温度下的补偿系数记录,并存储至测量装置中;根据装置内部运行温度采用不同的补偿系数实现对采样测量精度的补偿。本发明解决了基于AD采样的测量装置采样回路使用的元器件精度一致性以及温度特性较差,导致采样测量误差超过标准规定范围的问题,大幅提升测量装置采样测量精度。

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