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公开(公告)号：CN116692442B
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202310492343.3
申请日：2023-05-04
申请人： 国能智深(天津)控制技术有限公司
摘要： 本发明提供一种基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质，属于老化测试技术领域。所述方法包括：获取待测板卡的上料信息：根据上料信息匹配待测板卡在调整区的调整位和在上料区的插料位；抓取来料区的待测板卡移至调整区匹配的调整位；在调整位完成对待测板卡的调整后，抓取调整位上的待测板卡插入至上料区匹配的插料位。本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料，而下料过程与上料过程相反，具有较高的上下料效率，提高待测板卡的老化测试作业效率；其次，通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位)，具有较高的匹配精度，能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。
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公开(公告)号：CN116692442A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310492343.3
申请日：2023-05-04
申请人： 国能智深(天津)控制技术有限公司
摘要： 本发明提供一种基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质，属于老化测试技术领域。所述方法包括：获取待测板卡的上料信息：根据上料信息匹配待测板卡在调整区的调整位和在上料区的插料位；抓取来料区的待测板卡移至调整区匹配的调整位；在调整位完成对待测板卡的调整后，抓取调整位上的待测板卡插入至上料区匹配的插料位。本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料，而下料过程与上料过程相反，具有较高的上下料效率，提高待测板卡的老化测试作业效率；其次，通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位)，具有较高的匹配精度，能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。
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公开(公告)号：CN219625565U
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202321037306.5
申请日：2023-05-04
申请人： 国能智深(天津)控制技术有限公司
摘要： 本实用新型提供一种老化货架，属于测试技术领域。所述老化货架包括第一支架，所述第一支架的两侧均设有多层工装板，所述工装板均可拆卸连接在第一支架上，每块工装板均向下倾斜设置，每块工装板上设有若干安装孔。本实用新型的老化货架在安装待测产品时，直接将待测产品插入到工装板的安装孔内，由于工装板呈倾斜设置，相对于垂直结构能够解决待测产品因为自身重力可能会产生掉落的风险，且方便对待测产品的装取；其次，老化货架为背靠背结构设计，老化货架的前后两侧均设置有多层工装板，该结构可以最大化利用货架的空间，提高了老化测试的产品数量。
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公开(公告)号：CN219574154U
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202321038716.1
申请日：2023-05-04
申请人： 国能智深(天津)控制技术有限公司
摘要： 本实用新型提供一种FCT测试系统，属于FCT测试技术领域。所述系统包括测试箱和设置在测试箱内的工作台，所述测试箱内设有运输待测目标板的上下料机构，所述工作台的边沿处设置有测试墙，所述测试墙上安装有用于对多块待测目标板进行同时检测的测试机构，所述工作台的中部设置有机械手，所述机械手用于抓取上下料机构运输的待测目标板且用于将抓取的待测目标板放入至测试机构内。本实用新型能同时对多块目标板进行测试作业，能大幅度提高测试作业的效率；且上下料机构可持续运输待测目标板，能够连续对待测目标板进行测试作业。
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公开(公告)号：CN219224886U
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202223596293.3
申请日：2022-12-29
申请人： 国能智深(天津)控制技术有限公司
IPC分类号： G01R1/04
摘要： 本实用新型涉及自动测试设备的技术领域，特别是涉及一种自动对接装置，用于测试底座和测试产品的对接，其中，自动对接装置包括沿第一方向伸缩设置的移动组件、设置在移动组件上的定位组件、设置在移动组件和定位组件上方并沿第二方向伸缩设置的固定组件和沿第一方向伸缩设置的对接组件，移动组件用于沿第一方向移动测试产品，定位组件用于测试产品的定位，固定组件用于测试产品的固定，对接组件用于推动测试底座与测试产品插接。在整个过程中，测试产品的移动轨迹均为预先设计，最后的对接过程为自动对接，自动对接的位置和方向均为预先设计，不存在定位不准确而需要花费较长的时间进行位置调整的问题，从而提高对接速度并提升降低工作效率。
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