公开(公告)号：CN118501856A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410168498.6

申请日：2024-02-06

申请人： 夏普半导体创新株式会社

发明人： 佐藤秀树 ,  井上高广 ,  清水隆行 ,  池田徹朗 ,  阿飞牗·翔霸维

IPC分类号： G01S7/483 ,  G01S7/4861 ,  G01S17/08

摘要： 提供能够抑制由于雪崩击穿而造成的死区时间的长期化的光检测装置以及测距装置。光检测装置具备：SPAD，其一端被连接于第一节点；电阻成分，其一端被连接于第一节点；开关元件，其一端被连接于第一节点；以及控制电路，其控制开关元件，以对第一节点放电或充电。在第一节点的电位从第一电位变化为第二电位时，当自变化为第二电位起经过第一期间后，在经过第二期间的期间、或者在第二期间的期间内第一节点的电位回到第一电位为止的期间，控制电路将开关元件设为导通状态，在第一节点的电位未回到第一电位而经过了第二期间的情况下，控制电路将开关元件设为截止状态，自设为截止状态起经过第三期间后，再次设为导通状态。

公开(公告)号：CN118567212A

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202410188872.9

申请日：2024-02-20

申请人： 夏普半导体创新株式会社

发明人： 清水隆行 ,  井上高广 ,  佐藤秀树 ,  池田徹朗 ,  有村龙次

IPC分类号： G04F10/00 ,  G01S17/08

摘要： 本公开涉及计时装置、测距装置以及光传感器装置。所述计时装置具备：第一计数器(11)，使用从多个基准信号得到的多个第一脉冲信号来输出精计数值；第二计数器(12)，使用从多个基准信号得到的、频率比多个第一脉冲信号小的多个第二脉冲信号来输出粗计数值；以及控制部(22)，根据由锁存信号锁存的精计数值以及粗计数值来判断是否需要进行粗计数值的校正，在需要校正的情况下，使用精计数值和校正粗计数值而得到的粗校正值来计算二进制序列编号。

公开(公告)号：CN118363035A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410080791.7

申请日：2024-01-19

申请人： 夏普半导体创新株式会社

发明人： 池田徹朗 ,  井上高广 ,  佐藤秀树 ,  清水隆行 ,  河边勇

IPC分类号： G01S17/08 ,  G01S7/48 ,  G01S7/481 ,  G01S7/487 ,  G01C3/06 ,  G01S7/4865 ,  G01S17/42 ,  G01S17/10 ,  G01S7/483

摘要： 提供一种能够抑制错误测量距离的发生的测距装置。测距装置包括：发光部，发出多个脉冲光并发送与所述多个脉冲光对应的多个发光脉冲信号；对象受光部，接受所述多个脉冲光中的被测距对象物反射的多个对象脉冲光并发送与所述多个对象脉冲光对应的多个对象脉冲信号；时间‑数字转换部，将所述多个发光脉冲信号的各自的发光时序以及所述多个对象脉冲信号的各自的对象受光时序转换为数字值；以及直方图生成‑距离运算部，生成对象直方图并基于所述对象直方图的重心来计算距所述测距对象物的距离，所述对象直方图以所述对象受光时序的数字值与所述发光时序的数字值之间的差分为横轴，所述发光部以与均匀随机数对应的随机的间隔发出所述多个脉冲光。