公开(公告)号：CN118067798A

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202410287072.2

申请日：2024-03-13

Applicant: 大连理工大学

Inventor： 王子兰 ,  李浩洋 ,  武虹伶 ,  杨佳旋 ,  杨家鹏 ,  曹小宇 ,  赵帅康 ,  李冰

IPC: G01N27/04 ,  G01N27/20 ,  G01N25/72

Abstract: 本发明提出了一种可以同时频率扫描以及温度扫描的导纳谱测量系统，在传统深能级瞬态谱测量技术的基础上，本系统进行了三方面的创新和改进。首先，本系统基于ZurichInstrument研制的阻抗分析仪MFIA搭建，不再使用传统的仪器，从而可以不用电路分析，直接得到所需的导纳值。其次，本系统采用升温测试的同时进行输入小信号的频率扫描，从而可以一次实验的同时得到频率扫描和温度扫描的两种结果。最后系统采用自主开发的软件进行控制和快速数据处理，大大提高了实验效率和使用便利性。