公开(公告)号：CN117148030B

公开(公告)日：2024-01-02

申请号：CN202311411965.5

申请日：2023-10-30

申请人： 天津伍嘉联创科技发展股份有限公司

发明人： 李磊 ,  王宇升 ,  张旭 ,  付廷喜 ,  李向前

IPC分类号： G01R31/01 ,  B07C5/36 ,  B07C5/38 ,  B07C5/02

摘要： 本发明涉及晶振测试技术领域，尤其涉及一种晶振抽检装置，包括：底座；载料机构，载料机构包括位置可调地安装于底座的载盘以及安装于载盘的侧部且供收集次品晶振的回收盒，晶振放置于载盘；测试机构，测试机构包括位置可调地安装于底座的第一移动板以及高度可调地安装于第一移动板的测试件；吸取机构，吸取机构包括位置可调地安装于底座的第二移动板以及高度可调地安装于第二移动板的吸取件。本发明提供一种晶振抽检装置，提高了对晶振的检测效率，节约了晶振的检测时间，提高了对晶振生产时的工序控制效果。

公开(公告)号：CN117148030A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202311411965.5

申请日：2023-10-30

申请人： 天津伍嘉联创科技发展股份有限公司

发明人： 李磊 ,  王宇升 ,  张旭 ,  付廷喜 ,  李向前

IPC分类号： G01R31/01 ,  B07C5/36 ,  B07C5/38 ,  B07C5/02

摘要： 本发明涉及晶振测试技术领域，尤其涉及一种晶振抽检装置，包括：底座；载料机构，载料机构包括位置可调地安装于底座的载盘以及安装于载盘的侧部且供收集次品晶振的回收盒，晶振放置于载盘；测试机构，测试机构包括位置可调地安装于底座的第一移动板以及高度可调地安装于第一移动板的测试件；吸取机构，吸取机构包括位置可调地安装于底座的第二移动板以及高度可调地安装于第二移动板的吸取件。本发明提供一种晶振抽检装置，提高了对晶振的检测效率，节约了晶振的检测时间，提高了对晶振生产时的工序控制效果。