一种在线故障注入用的保护测试装置

    公开(公告)号:CN118191476A

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202410449472.9

    申请日:2024-04-15

    IPC分类号: G01R31/00 G01R1/04 G01R1/02

    摘要: 本发明涉及故障注入测试技术领域,具体公开了一种在线故障注入用的保护测试装置,包括箱体,所述箱体顶部固定设置有箱盖组件,且箱盖组件顶部转动设置有调节装置;所述箱体内部滑动设置有接电结构,且接电结构外侧固定设置有保护组件;所述箱体内部固定设置有第一开关结构,且箱体内部还固定设置有第二开关结构;所述箱体内部一侧固定设置有变阻组件,通过设置有接电结构与保护组件以及盖板组件。本发明能够在继电保护装置无法发出跳闸命令时,自动将该测试装置与被测电力系统断开,有利于防止注入的故障对被测的电力系统造成损坏;解决当继电保护装置已经损坏存在不足,无法发出跳闸命令时,注入的故障可能会对被测的电力系统造成损坏的问题。

    一种故障位置选取方法、系统及存储介质

    公开(公告)号:CN117129800A

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202311190790.X

    申请日:2023-09-15

    IPC分类号: G01R31/08

    摘要: 本发明公开了一种故障位置选取方法、系统及存储介质,包括:以待整定保护所在线路与配合线路的线路阻抗和节点阻抗矩阵为系数,以配合线路的故障位置为变量,构建关于正序助增系数的第一线性表达式;其中,所述故障位置为故障发生位置距配合线路首端的距离占配合线路全长的比例;据所述故障位置从配合线路中移动,由所述第一线性表达式得到所述正序助增系数的变化规律,并根据所述变化规律,建立所述故障位置的N个判断条件集;其中,N为正整数;根据所述N个判断条件集,将故障位置的位置类别进行分类,并根据所述系数满足的判断条件集,得到所述故障位置在对应位置类别下的选取结果;能够提高故障位置选取的效率和准确度。

    一种继电保护器箱体的支撑结构
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117039674A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310997145.2

    申请日:2023-08-09

    摘要: 本发明涉及支撑结构技术领域,公开了一种继电保护器箱体的支撑结构,其包括有支撑组件,所述支撑组件包括底板和支撑板,所述底板和所述支撑板之间均布有支撑弹簧,所述支撑弹簧一端和所述底板抵接,另一端和所述支撑板抵接,所述支撑板底部设有球形连接部,所述球形连接部和所述底板之间转动连接;多个调节组件,分别位于所述支撑板上,用于调节所述底板和所述支撑板之间的安装角度,使支撑板始终保持水平状态;两个安装组件,沿第一方向间隔设置且分别位于继电器箱体两端,用于和继电器箱体固定,且和所述支撑板弹性连接。本发明的有益效果:避免继电保护器箱体安装时发生歪斜,发生碰撞时可缓冲,避免箱体损坏。

    一种光耦的预期寿命评估方法、装置及介质

    公开(公告)号:CN116298848A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310196668.7

    申请日:2023-03-02

    IPC分类号: G01R31/327 G01R31/00

    摘要: 本发明公开一种光耦的预期寿命评估方法、装置及介质,所述方法包括:设置潮热条件并按照试验周期向待测光耦间歇性供电,监测所述待测光耦的敏感参数变化,得到样品数据;根据所述待测光耦的敏感参数变化,确定所述样品数据中所述待测光耦失效情况;根据所述待测光耦的失效寿命或伪失效寿命进行多次拟合,保证失效机理未发生变化的前提下从多次拟合中选出拟合优度最大的分布函数构建寿命模型;结合确认的加速模型、外场应力数据,利用所述寿命模型计算在所述外场应力数据影响下所述待测光耦的预期寿命。采用本发明,将影响光耦寿命的因素从单一的温度,延伸到温度与湿度,使实验条件更贴近真实工况,进而提高寿命预估精度。