一种物质结构与太赫兹光谱数据之间的可逆预测方法

    公开(公告)号:CN117309801A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311232914.6

    申请日:2023-09-22

    IPC分类号: G01N21/3581 G16C60/00

    摘要: 本发明涉及物质结构预测技术领域,具体公开了一种物质结构与太赫兹光谱数据之间的可逆预测方法,包括:首先获取待测物质的实验光谱数据和晶体结构,然后基于晶体结构建立晶体模型,并使用DFT(密度泛函理论Density Functional Theory)进行模拟,生成模拟光谱数据。接下来,对模拟光谱数据进行数据处理,与实验光谱数据进行对比分析。如果模拟数据与实验数据不匹配,系统会对晶体模型进行调整,并再次进行DFT模拟,直到匹配。一旦模拟数据与实验数据一致,就会提取特征峰和共振频率,并将它们与太赫兹数据库中的特征峰进行聚合,以预测待测物质的分子结构。这个方法结合了晶体结构模拟和光谱数据分析,以高度准确的方式识别待测物质的分子结构。

    一种基于太赫兹检测的涂层分层厚度测量方法

    公开(公告)号:CN118797446A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202411259903.1

    申请日:2024-09-10

    摘要: 本发明是一种基于太赫兹检测的涂层分层厚度测量方法,涉及太赫兹波技术领域,包括以下步骤:实验样品准备;太赫兹信号预处理;提取时频域特征;采用核主成分分析进行降维;对数据集进行划分和均值归一化处理;分类器训练;训练支持向量机分类模型;层数判定;厚度测量。本发明通过预先对涂层样品进行分层处理,为后续厚度测量提供准确的模型构建依据;通过精确的太赫兹信号预处理和特征提取,提高测量精度;利用核主成分分析进行降维,优化计算效率和分类器性能;采用改进型麻雀搜索算法对支持向量机进行优化,提高分类器的分类准确率;结合广义的Rouard方法和色散衰减改进的遗传算法,准确计算了各层的厚度,保证测量的准确性和可靠性。

    一种基于双色场相位锁定的太赫兹场产生方法

    公开(公告)号:CN117452675A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311626248.4

    申请日:2023-11-30

    IPC分类号: G02F1/01 G02B27/09

    摘要: 本发明涉及光电子的太赫兹脉冲产生技术领域,公开了一种基于双色场相位锁定的太赫兹场产生方法,包括:通过光学系统搭建,使用扩束镜组对光路中的条纹光斑进行放大。获取放大后的光斑频率图和相位图,提取其周期频率点。分析周期频率点的相位变化信息,与预期相位变化阈值对比,判断是否需要对压电陶瓷位置进行调整。若相位变化信息在阈值范围内,认定不需调整;反之,则对压电陶瓷位置进行调整移动。这一过程通过对光场相位进行精确控制,提高脉冲的稳定性的同时,简化整体结构,降低太赫兹磁场产生的成本。

    一种空气电离产生剩余电流的太赫兹波形探测系统

    公开(公告)号:CN117740760A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311547769.0

    申请日:2023-11-20

    摘要: 本发明涉及光学检测分析技术领域,公开了一种空气电离产生剩余电流的太赫兹波形探测系统,包括:飞秒激光发生模块,发射强飞秒激光脉冲电离气相介质;太赫兹波发生模块,发射太赫兹待测脉冲驱动电子产生剩余电流;控制模块,用于改变飞秒激光脉冲和太赫兹脉冲之间的时间延迟;电流检测模块,检测不同时间延迟下的剩余电流;获取模块,记录不同时间延迟下的剩余电流,对太赫兹脉冲的时域波形进行重构;显示模块,根据获取模块的重构结果,对太赫兹的时域波形进行展示。本发明通过检测剩余电流随探测脉冲和待测脉冲之间时间延迟的变化,实现对待测脉冲时域波形的重构,从而实现宽脉宽飞秒脉冲对窄脉宽太赫兹脉冲时域波形的探测。

    一种太赫兹数据库定量分析方法及系统

    公开(公告)号:CN117711517A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311764735.7

    申请日:2023-12-21

    摘要: 本发明涉及太赫兹数据库定量分析技术领域,具体公开了一种太赫兹数据库定量分析方法及系统,该方法包括:获取待分析样品的光谱数据和分子结构,对光谱数据进行处理获得目标数据;根据待分析样品分子结构构建数据索引式,提取数据库中对应标准分子结构光谱数据;基于数据库中各分子结构光谱数据,建立拟合模型。通过对比拟合模型与目标数据的光谱关系,判断其一致性。若匹配,拟合模型的分子结构比例即视为待分析样品的比例;若不匹配,对拟合模型进行调整,直至光谱数据与目标数据相一致。通过光谱数据分析、建模、拟合以及迭代优化,实现了对待分析样品内部分子结构比例的精确定量分析,为复杂样品的化学成分分析提供了快速可靠的解决方案。

    一种太赫兹数据库的结构
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117153296A

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202311232957.4

    申请日:2023-09-22

    IPC分类号: G16C20/90 G06F21/62 G06F21/31

    摘要: 本发明涉及光谱数据库技术领域,具体公开了一种太赫兹数据库的结构,包括:登录模块负责获取登录者身份信息,确保合法用户的访问。访问模块与登录模块相连,对登录者进行操作访问,记录操作信息包括数据上传和浏览。其中,上传模块通过连接访问模块和数据库,实现对登录者上传的数据的审核、分类归档。浏览模块与登录、访问模块及数据库相连接,获取登录者的数据浏览索引条件,从数据库中检索出相应的存储数据信息。此外,浏览模块还获取存储数据的权限信息,并据此与登录者身份的权限信息相比较,判断是否允许登录者进行数据浏览。综上该结构提供了完善的数据管理及访问机制,确保数据安全、权限合规,为各类用户提供高效、可靠的数据操作体验。

    基于太赫兹的膜厚测量方法及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN115014212B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202210553848.1

    申请日:2022-05-20

    IPC分类号: G01B11/06

    摘要: 本发明提供了一种基于太赫兹的膜厚测量方法及计算机可读存储介质,属于镀膜厚度检测的技术领域,解决了现有技术在对较薄镀膜进行测厚时存在测量困难的问题。一种基于太赫兹的膜厚测量方法,包括:获取测量数据的时域信号;对测量数据的时域信号进行傅里叶变换,得到测量数据的频谱图;判断测量数据的频谱图中是否存在两个以上波峰或波谷;若是,则获取频谱图中相邻两个波峰或波谷之间的频域间隔;根据频域间隔,计算厚度值。

    一种基于太赫兹的涂层厚度检测方法及系统

    公开(公告)号:CN118089558A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202311407515.9

    申请日:2023-10-27

    IPC分类号: G01B11/06 G01B11/00 G01B11/02

    摘要: 本发明涉及厚度检测技术领域,公开了一种基于太赫兹的涂层厚度检测方法及系统,该方法包括:建立机器人基座坐标系,标定法兰盘中心点映射关系;平面法标定激光测距传感器与法兰坐标系映射;利用太赫兹标定板确定激光测距传感器的检测距离;进行被测物检测和建模数据获取;控制机器人定位、采集局部平面数据,并与被测物法向量比对,自动调整机器人;根据角度差值判断是否调整机器人位置;采集环境信息并校正测量距离,测量距离与检测距离比对获得最终测量距离;最后根据最终测量距离进行太赫兹时域光谱测量。本发明具备自动化、高精度、非接触等优势,提高了涂层厚度测量的精度和自动化程度,减少操作人员技术依赖。