一种tray盘自动包装线及其tray盘装袋机构

    公开(公告)号:CN115465528B

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202210940854.2

    申请日:2022-08-07

    IPC分类号: B65B61/20 B65B5/06

    摘要: 本发明涉及一种tray盘自动包装线,公开了一种tray盘自动包装线及其tray盘装袋机构,其包括装袋工作台,装袋工作台上设有用于将包装袋袋口打开的开袋机构和与开袋机构相对设置的且用于将tray盘送入包装袋中的送盘机构,送盘机构包括用于放置tray盘的放盘平台,装袋工作台上设有用于放置湿度卡的湿度卡放置槽和用于输出干燥剂的干燥剂储料机构,装袋工作台上还设有用于将湿度卡放置槽内的湿度卡和干燥剂储料机构输出的干燥剂运送到放盘平台上tray盘上端面的输送机构。本发明在整个装袋过程中包装袋以及tray盘能够同时上料,tray盘、干燥剂和湿度卡能够同时装袋,自动化程度高,工作效率也得到了进一步提高。

    一种双边多工位正反面外观检测装置及其检测方法

    公开(公告)号:CN117607056A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202410096375.6

    申请日:2024-01-24

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/88

    摘要: 本发明涉及一种外观检测装置,公开了一种双边多工位正反面外观检测装置及其检测方法,其包括底座,底座上安装有相机检测机构,底座上设有用于对工件正反面检测的检测工位和用于实现工件移转的工件转移工位,检测工位和工件转移工位能够处于底座的同一位置处;还包括设置于相机检测机构下方且用于将工件运行到检测工位分别进行正面检测和反面检测的上料移栽机构和下料移栽机构,上料移栽机构和下料移栽机构均运动到工件转移工位时,上料移栽机构的工件治具和下料移栽机构的工件治具相互翻转到正向相对的位置处实现工件的移转。本发明能够实现同一批工件的正反面检测,并且能够有效利用检测、上下料的空隙时间,有效提高检测效率。

    一种用于芯片编带外观缺陷检测的双流道系统

    公开(公告)号:CN116853589A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310280157.3

    申请日:2023-03-22

    IPC分类号: B65B15/04 B65B57/00 B65B61/26

    摘要: 本发明涉及芯片编带外观检测技术领域,具体地说,涉及一种用于芯片编带外观缺陷检测的双流道系统。两条输送流道均包括流道主体;流道主体包括沿编带运送方向平行布置的固定轨道组件和调整轨道组件;固定轨道组件和调整轨道组件的上端面及两者之间的区域共同构成芯片编带运送的输送通路。可以理解地,相对于单流道式的检测方法,双流道式的检测过程中,可移动的多站式视检系统能够通过来回移动不间断地交替对两条流道进行检测,中途间隔空档较少;从而能够较佳地提高检测效率。

    一种用于芯片编带外观缺陷检测的多站式视检系统

    公开(公告)号:CN116773543A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310280283.9

    申请日:2023-03-22

    摘要: 本发明涉及芯片编带外观检测技术领域,具体地说,涉及一种用于芯片编带外观缺陷检测的多站式视检系统。其布置于芯片编带外观缺陷检测设备的检测区域处并用于对经过芯片编带外观缺陷检测设备处检测区域处的芯片编带进行外观缺陷检测;多站式视检系统包括系统主体,系统主体通过视检安装板以安装固定;多站式视检系统包括沿流道运送方向相邻竖直布置于视检安装板处的用于检测异物和崩边的第一检测组件、用于对芯片字符进行检测的第二检测组件和用于对崩边划痕进行检测的第三检测组件。这样布置使得该多站式视检系统整体结构更为紧凑,所占位置空间更小,从而能够较佳地减小该视检系统对于设备主体中的其他器件的使用以及布置过程产生影响。

    一种用于外观检测的微距检测及分选方法及应用

    公开(公告)号:CN116329127A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202310349835.7

    申请日:2023-04-04

    摘要: 本发明涉及电子产品外观缺陷检测技术领域,具体地说,涉及一种用于外观检测的微距检测及分选方法。具体包括以下步骤,步骤一、微距检测上料、步骤二、CG面检测、步骤三、检测对象翻转;步骤四、BG面检测;步骤五、微距检测分选下料;通过上述工位以及相应的微距检测相机布置方法能够较佳地对于检测对象处易出现外观缺陷的部位进行覆盖,并且多工位式的布置方法能够使得可覆盖的外观缺陷检测更加完全。

    有图案晶圆脏污检测方法、装置、系统及存储介质

    公开(公告)号:CN115908347A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211527049.3

    申请日:2022-12-01

    IPC分类号: G06T7/00

    摘要: 本发明涉及晶圆检测技术领域,具体地说,涉及一种有图案晶圆脏污检测方法、装置、系统及存储介质。其能够较佳地将所采集到的检测图像f1与设计图像f2进行匹配,并能够基于设计图像f2对检测图像f1进行分割,故而能够较佳地提升对检测图像f1进行分割时,因光照不均而导致的分割误差;另外,还能够通过缩放操作,实现对不同检测要求的检测区域进行单独的缩放操作,故而能够通过对重点检测区域进行放大以提升检测精度,通过对非重点检测区域进行缩小以提升检测速度。本发明能够有效地降低因光照不均而导致的噪声对检测精度的影响,并能够有效地提升检测速度。

    一种指纹模组检测系统
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115901778A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211422174.8

    申请日:2022-11-14

    IPC分类号: G01N21/88

    摘要: 本发明涉及指纹模组检测领域,公开了一种指纹模组检测系统,其包括检测安装板,检测安装板上设有指纹模组传送机构和指纹模组检测机构,指纹模组传送机构包括用于传送料盘的上料流水线和下料流水线,指纹模组检测机构包括沿工件检测方向依次设置的相机模组、工件反面检测机构和工件正面检测机构,检测安装板上且位于工件反面检测机构与工件正面检测机构之间以及工件正面检测机构与下料流水线之间均设有指纹模组翻转搬运机构,相机模组设置于上料流水线与工件反面检测机构之间。本发明给出了一种能够对指纹模组进行正反两面检测的检测机构,且对于正面和反面均提供多个检测工位,能够实现对指纹模组各检测面的全覆盖检测,具有较高的检测能力。

    一种单入射角的待检测产品通用检测装置、方法及系统

    公开(公告)号:CN113109358A

    公开(公告)日:2021-07-13

    申请号:CN202110406908.2

    申请日:2021-04-15

    发明人: 王孟哲

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/01

    摘要: 本发明提供了一种单入射角的待检测产品通用检测装置、方法及系统,该装置包括控制系统、移动模组、采集传感装置、光源模块以及用于放置待检测产品的基座,控制系统用于控制移动模组、采集传感装置和光源模块的开启或关闭;光源模块用于提供入射角光线,移动模组使光源模块能多方位地照向待检测产品,以及使采集传感装置能多方位地获取被光源模块照射的待检测产品图像信息。与现有技术相比,本发明能通过移动模组带动光源模块对待检测产品进行多方位的照射,同时带动采集传感装置对被光源模块照射后的待检测产品进行多方位地图像采集,从而能采集到待检测产品不同角度的清晰图像,并能准确发现待检测产品的缺陷,避免漏检,提高产品的质量。

    一种电机定子转子加工装置

    公开(公告)号:CN103956867B

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201410204556.2

    申请日:2014-05-14

    IPC分类号: H02K15/02

    摘要: 本发明涉及定转子加工领域,尤其是一种电机定子转子加工装置。一种电机定子转子加工装置,由激光测厚机构、电机冲压机床切割冲压机构、重量感应机构依次构成,所述激光测厚机构包括中空的钢带托板,所述钢带托板中空部分上下设有竖直相向的激光器,所述电机冲压机床切割冲压机构包括切割刀具、冲压头和工作台,所述重量感应机构包括可调宽度滑道,所述工作台的落料口下方设有传输带,所述可调宽度滑道分别和传输带、活动槽对接,所述活动槽和电子称台面对接,所述激光测厚机构、电机冲压机床切割冲压机构、重量感应机构与控制器保持数据通信。本发明的有益之处:避免了误差范围过大,称重检测时合格率大大地提高,严控不合格率。