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公开(公告)号：CN114863971B
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202210412408.4
申请日：2022-04-19
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司
IPC: G11C11/419
Abstract: 本发明公开了一种位线泄漏电流、灵敏放大器及存储器的控制电路，包括由8T SRAM存储单元构成的存储阵列和具有对称结构的四输入灵敏放大器，存储阵列的两对传输管分别与主位线对和副位线对连接；一列存储单元中连接同一侧存储节点的一根主位线和一根副位线分别与所述四输入灵敏放大器两侧的一个输入端连接，其中：所述四输入灵敏放大器中已与副位线连接的一侧的输入端与另一根主位线连接，已与主位线连接的一侧的输入端与另一根副位线连接。该电路结构在不增加更多控制信号的情况下，能够实时地检测并补偿位线泄漏电流；在位线泄漏电流很大的情况下，依然能够读出正确的数据，有很稳定的性能。
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公开(公告)号：CN113921058B
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202111064230.0
申请日：2021-09-10
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司
IPC: G11C11/417 , G11C13/00
Abstract: 本发明公开了一种8T2R非易失SRAM单元电路，包括两个阻变随机存取存储器RRAM构成的非易失数据存储电路，上方的阻变随机存取存储器UR和下方的阻变随机存取存储器BR；一个N型MOSFET和一个P型MOSFET构成的传输门电路，N型MOSFET记为NT，P型MOSFET记为PT；两个P型MOSFET与两个N型MOSFET构成两个反相器，并且这两个反相器的首尾相连，两个P型MOSFET分别记为左上拉晶体管LUT和右上拉晶体管RUT，两个N型MOSFET分别记为左下拉晶体管LDT和右下拉晶体管RDT，左侧访问晶体管LAT和右侧访问晶体管RAT构成6T‑SRAM的存储单元。该电路在SRAM的读、写和保持能力的基础上，增加了非易失单元RRAM，令SRAM具备掉电数据不丢失和上电数据恢复能力。
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公开(公告)号：CN114496026A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202210081248.X
申请日：2022-01-24
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司 , 合肥海图微电子有限公司
IPC: G11C11/413 , G11C8/14 , G11C7/18 , G11C5/14
Abstract: 本发明公开了一种基于极性加固技术的抗辐照SRAM存储电路，包括八个NMOS晶体管和六个PMOS晶体管，PMOS晶体管P3和P4交叉耦合，NMOS晶体管N3、N4和PMOS晶体管P1、P2作为上拉管，NMOS晶体管N1、N2、N5、N6作为下拉管；两个主存储节点Q与QN通过NMOS晶体管N8与N7分别与位线BL和BLB相连，两个冗余存储节点S1与S0通过PMOS晶体管P6与P5分别与位线BL和BLB相连，NMOS晶体管N7、N8由字线WL控制，PMOS晶体管P5、P6由字线WLB控制。上述电路能够提高SRAM存储单元的稳定性，并提高单元抗单粒子翻转能力。
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公开(公告)号：CN114446349A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202210081249.4
申请日：2022-01-24
Applicant: 安徽大学 , 合肥海图微电子有限公司 , 合肥市微电子研究院有限公司
IPC: G11C11/413
Abstract: 本发明公开了一种基于极性加固技术的14T抗辐照SRAM存储电路，包括六个NMOS晶体管和八个PMOS晶体管，六个NMOS晶体管依次记为N1～N6，八个PMOS晶体管依次记为P1～P8，PMOS晶体管P3和P4交叉耦合，PMOS晶体管P1、P2作为上拉管，NMOS晶体管N1、N2、N3、N4和PMOS晶体管P5、P6作为下拉管；两个主存储节点Q与QN通过NMOS晶体管N5与N6分别与位线BL和BLB相连，两个冗余存储节点S0与S1通过PMOS晶体管P7与P8分别与位线BL和BLB相连。该电路能够提高存储单元写速度、降低单元功耗，并提高单元抗单粒子翻转SEU能力。
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公开(公告)号：CN114429774A
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN202210081246.0
申请日：2022-01-24
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司 , 合肥海图微电子有限公司
IPC: G11C11/412 , G11C11/419
Abstract: 本发明公开了一种基于极性加固技术的SRAM存储电路，包括四个PMOS晶体管和十个NMOS晶体管，PMOS晶体管P1、P2作为上拉管，PMOS晶体管P3和P4交叉耦合；NMOS晶体管N3、N4、N5、N6作为下拉管，NMOS晶体管N5和N6交叉耦合；主存储节点Q和QN通过NMOS晶体管N7与N8分别与位线BL和BLB相连，冗余存储节点S0与S1通过NMOS晶体管N9与N10分别与位线BL和BLB相连；位线BL与NMOS晶体管N7与N9的源极电连接，位线BLB与NMOS晶体管N8与N10的源极电连接。利用该结构的存储电路可以提高存储单元写速度、降低单元功耗，并提高单元抗单粒子翻转SEU的能力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113658627A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110845112.7
申请日：2021-07-26
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司
IPC: G11C16/04
Abstract: 本发明公开了一种能区分阻态交叉的10T4R单元电路，包括10个NMOS晶体管；以及4个阻变随机存储器RRAM，分别为RRAM1、RRAM2、RRAM3、RRAM4，RRAM1和RRAM4的摆放方向相同，顶部电极朝左；RRAM2和RRAM3的摆放方向相同，顶部电极朝右；且所述电路采用反向编码方式，具体来说：顶部电极朝左的高阻态代表“0”，低阻态代表“1”；顶部电极朝右的高阻态代表“1”，低阻态代表“0”；通过所采用的反向编码方式和4个RRAM的串并联切换，消除阻态交叉对电路产生的影响，实现“与”、“或”和“异或”的布尔逻辑运算和三态寻址操作，并有效提高计算准确性。
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公开(公告)号：CN113658627B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202110845112.7
申请日：2021-07-26
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司
IPC: G11C16/04
Abstract: 本发明公开了一种能区分阻态交叉的10T4R单元电路，包括10个NMOS晶体管；以及4个阻变随机存储器RRAM，分别为RRAM1、RRAM2、RRAM3、RRAM4，RRAM1和RRAM4的摆放方向相同，顶部电极朝左；RRAM2和RRAM3的摆放方向相同，顶部电极朝右；且所述电路采用反向编码方式，具体来说：顶部电极朝左的高阻态代表“0”，低阻态代表“1”；顶部电极朝右的高阻态代表“1”，低阻态代表“0”；通过所采用的反向编码方式和4个RRAM的串并联切换，消除阻态交叉对电路产生的影响，实现“与”、“或”和“异或”的布尔逻辑运算和三态寻址操作，并有效提高计算准确性。
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公开(公告)号：CN114254743B
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202111395976.X
申请日：2021-11-23
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司
IPC: G06N3/063
Abstract: 本发明公开了一种基于RRAM阵列构成的二进制神经网络中并行乘累加运算的电路，基于1T1R单元构成的存储阵列是采用伪交叉结构的64x64的RRAM阵列，每个1T1R单元由一个NMOSFET和一个阻变随机存取存储器构成；存储阵列每一行的字线WL均连接并行输入电路，实现最大8X8权重矩阵中的64个数据与存储阵列中存储的64个数据完成二进制神经网络BNN卷积运算；存储阵列每一列的位线BL均连接级联型电流镜电路的电流输入端，且级联型电流镜电路的输出端连接到输出电容的上极板上。该电路避免了传统SRAM中存储单元在多行读取时不同节点间的串扰和存储数据易破坏问题，提高了系统的可靠性，降低了单元之间的泄露功耗。
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公开(公告)号：CN113921058A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202111064230.0
申请日：2021-09-10
Applicant: 安徽大学 , 合肥市微电子研究院有限公司
IPC: G11C11/417 , G11C13/00
Abstract: 本发明公开了一种8T2R非易失SRAM单元电路，包括两个阻变随机存取存储器RRAM构成的非易失数据存储电路，上方的阻变随机存取存储器UR和下方的阻变随机存取存储器BR；一个N型MOSFET和一个P型MOSFET构成的传输门电路，N型MOSFET记为NT，P型MOSFET记为PT；两个P型MOSFET与两个N型MOSFET构成两个反相器，并且这两个反相器的首尾相连，两个P型MOSFET分别记为左上拉晶体管LUT和右上拉晶体管RUT，两个N型MOSFET分别记为左下拉晶体管LDT和右下拉晶体管RDT，左侧访问晶体管LAT和右侧访问晶体管RAT构成6T‑SRAM的存储单元。该电路在SRAM的读、写和保持能力的基础上，增加了非易失单元RRAM，令SRAM具备掉电数据不丢失和上电数据恢复能力。
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公开(公告)号：CN113764009A
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN202111010201.6
申请日：2021-08-31
Applicant: 安徽大学 , 合肥海图微电子有限公司 , 合肥市微电子研究院有限公司
Abstract: 本发明公开了一种14T抗辐照SRAM存储单元电路，PMOS晶体管P1和P2交叉耦合，且PMOS晶体管P1、P2作为上拉管，NMOS晶体管N3、N4和PMOS晶体管P5、P6作为下拉管；NMOS晶体管N1和PMOS晶体管P3构成一个反相器，NMOS晶体管N2和PMOS晶体管P4构成另一个反相器，且两个反相器交叉耦合；两个主存储节点Q与QN通过两个NMOS晶体管N5和N6分别与位线BL和BLB相连；两个冗余存储节点S0与S1通过两个PMOS晶体管P7与P8分别与位线BL和BLB相连。上述电路能够在牺牲较小单元面积的情况下大幅度提高单元的速度，并降低单元功耗和提高单元抗单粒子翻转的能力。
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