一种利用热敏电阻基片进行高温测定的方法

    公开(公告)号:CN110542488A

    公开(公告)日:2019-12-06

    申请号:CN201910897751.0

    申请日:2019-09-23

    IPC分类号: G01K7/22

    摘要: 本发明公开了一种利用热敏电阻基片进行高温测定的方法,包括以下步骤:建立热敏电阻基片的烧结温度与对应的热敏电阻的B值之间的标准表格;将热敏电阻基片放置在待测定温度的位置,在待测定温度下烧结,取出后检测热敏电阻的B值检测值;在标准表格中查找B值检测值所对应的烧结温度,即为待测定温度。本发明提供的高温测定方法可以测定1000-1250℃范围内的温度,准确性、稳定性、重复性好,可以用于检测高温烧结炉内某点的烧结温度,检测高温烧结炉内的温度分布,以及不同高温烧结炉之间的校对等。

    单端玻封热敏电阻
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN210516364U

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201921581340.2

    申请日:2019-09-23

    摘要: 本实用新型公开了一种单端玻封热敏电阻,包括芯片,所述芯片的两侧分别连接第一电极和第二电极,所述第一电极连接第一引线,所述第二电极连接第二引线,所述芯片外包裹密封玻璃头,所述玻璃头为饼型。本实用新型提供的单端玻封热敏电阻的玻璃头为饼型,其接触面积相较于橄榄形玻璃头增大数倍,热传导快,测温更快,测量数据更加精确;在制备薄膜封装型热敏电阻时,饼型玻璃头薄膜封装紧密,不容易产生气泡和起皱。