专利检索 ap:("安捷伦科技公司") AND inv:"罗米·迈德尔" 第 1 页

1.

发明公开
用于测试装置的平行校准系统无效

公开(公告)号：CN1719275A

公开(公告)日：2006-01-11

申请号：CN200510056470.0

申请日：2005-03-22

申请人： 安捷伦科技公司

发明人： 罗米·迈德尔 , 托德·舒尔 , 纳赛尔·阿里·加法里 , 安德鲁·谢 , 兰迪·L·贝利

IPC分类号： G01R35/00

CPC分类号： G01R31/3191 , G01R35/005

摘要： 本发明揭示一种用于一电子电路测试仪的平行校准系统，其包括测试及测量电子装置、及一耦合至所述测试及测量电子装置的测试夾具。所述测试夾具包括：时钟基准电路及时钟分配电路、一受试装置接口及耦合至所述受试装置接口的多个校准板，其中所述多个校准板及所述时钟分配电路同时测试多个测试通道的信号路径。