利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

84 条记录 (耗时 0.014 秒)

    用于对被测设备进行测试的测试装置和方法
    1.
    发明公开
    用于对被测设备进行测试的测试装置和方法 有权

    公开(公告)号：CN106068460A

    公开(公告)日：2016-11-02

    申请号：CN201480077041.9

    申请日：2014-01-30

    申请人： 爱德万测试公司

    发明人： 约亨·里瓦尔

    IPC分类号： G01R31/319

    CPC分类号： G01R31/3191

    摘要： 一种用于对被测设备进行测试的测试装置被配置为接收来自被测设备的响应信号并将一个或多个校正函数应用于接收到的响应信号，以至少部分地对被测设备的缺陷进行校正。该测试装置被配置为由此获得被测设备的经校正的响应信号，并对经校正的响应信号进行评估以判断被测设备。

    自动测试装置及与其配套使用的校准设备和校准方法
    2.
    发明授权
    自动测试装置及与其配套使用的校准设备和校准方法 失效

    公开(公告)号：CN101484819B

    公开(公告)日：2012-05-09

    申请号：CN200780025013.2

    申请日：2007-06-29

    申请人： 泰瑞达公司

    发明人： 乔治·克纳尔 ,  黄莉

    IPC分类号： G01R31/319

    CPC分类号： G01R31/3191

    摘要： 提供了一种与自动测试装置(ATE)配套使用的校准设备。该校准设备包括具有扇出电路的线路。该比较侧扇出电路具有连接到ATE的第一信道的输入以及连接到ATE的N个(N>1)信道的输出，其中该N个信道不包括第一信道。ATE在第一信道上传播边沿，并且扇出电路将该边沿传输到该N个信道。可选地，与自动测试装置(ATE)配套使用的校准设备包括驱动侧电路。该驱动侧电路包括具有连接到ATE的N个(N>1)信道的多个输入以及连接到并非该N个信道之一的ATE的第二信道的输出的线路。ATE将边沿在N个信道的每个信道上传播并且该线路将每个边沿传播到ATE的第二信道。

    测试装置和插脚电子卡
    3.
    发明授权
    测试装置和插脚电子卡 失效

    公开(公告)号：CN101331405B

    公开(公告)日：2011-04-06

    申请号：CN200680047293.2

    申请日：2006-12-13

    申请人： 爱德万测试株式会社

    发明人： 松本直木 ,  关野隆

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/31924 ,  G01R31/3191

    摘要： 提供一种测试装置，该装置包括：将测试信号输出给被测试器件的激励器；将激励器与被测试器件电连接的第一传送路径；设置在第一传送路径中，切换是否连接激励器和被测试器件的第一FET开关；比较被测试器件的输出信号的电压和预先设定的参考电压的比较器；在第一传送路径中，从第一FET开关和被测试器件之间分路出的、连接第一传送路径和比较器的第二传送路径；设置在第二传送路径中的、切换是否连接比较器和被测试器件的第二FET开关；检测输出信号、根据检测的输出信号对第一FET开关的电容成分进行充放电的电容补偿部。

    延迟电路以及测试装置
    4.
    发明授权
    延迟电路以及测试装置 失效

    公开(公告)号：CN100563103C

    公开(公告)日：2009-11-25

    申请号：CN200480037677.7

    申请日：2004-12-17

    申请人： 爱德万测试株式会社

    发明人： 须田昌克 ,  寒竹秀介

    IPC分类号： H03K5/13 ,  G01R31/28

    CPC分类号： H03K5/133 ,  G01R31/3191 ,  G01R31/31922 ,  G01R31/31937 ,  H03K2005/00026 ,  H03K2005/00039 ,  H03K2005/00058 ,  H03K2005/0013 ,  H03K2005/00202 ,  H03K2005/00267

    摘要： 本发明提供一种延迟电路，其对应于所期望的延迟时间设定使输入信号延迟且输出，包括：延迟元件，其使该输入信号延迟一以所施加的供给电流为基准的延迟时间且输出该输入信号；电流供给部，其产生该供给电流；电压产生部，其产生一种对应于该延迟时间设定的基本电压；以及控制部，其使电流供给部产生供给电流，根据电流供给部的特性，使基本电压变换成控制电压，以供给至电流供给部。电流供给部具有所定的导电特性且具有第1MOS电晶体，其供给汲极电流至延迟元件以作为该供给电流。该控制部产生第1MOS电晶体在饱和区域动作时的第1控制电压，该第1控制电压可供给至第1MOS电晶体的闸极端。

    测试装置和插脚电子卡
    5.
    发明公开
    测试装置和插脚电子卡 失效

    公开(公告)号：CN101331405A

    公开(公告)日：2008-12-24

    申请号：CN200680047293.2

    申请日：2006-12-13

    申请人： 爱德万测试株式会社

    发明人： 松本直木 ,  关野隆

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/31924 ,  G01R31/3191

    摘要： 提供一种测试装置，该装置包括：将测试信号输出给被测试器件的激励器；将激励器与被测试器件电连接的第一传送路径；设置在第一传送路径中，切换是否连接激励器和被测试器件的第一FET开关；比较被测试器件的输出信号的电压和预先设定的参考电压的比较器；在第一传送路径中，从第一FET开关和被测试器件之间分路出的、连接第一传送路径和比较器的第二传送路径；设置在第二传送路径中的、切换是否连接比较器和被测试器件的第二FET开关；检测输出信号、根据检测的输出信号对第一FET开关的电容成分进行充放电的电容补偿部。

    校准比较器电路
    7.
    发明公开
    校准比较器电路 失效

    公开(公告)号：CN1846141A

    公开(公告)日：2006-10-11

    申请号：CN200480025335.3

    申请日：2004-09-08

    申请人： 株式会社爱德万测试

    发明人： 梅村芳春 ,  冈安俊幸 ,  淡路利明 ,  山川雅裕

    IPC分类号： G01R31/316

    CPC分类号： G01R31/31932 ,  G01R31/3191

    摘要： 一种用于对装置测试的测试设备，包括：定时发生器，用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号；多个定时延迟部件，用于延迟所述定时信号；多个驱动器，用于施加所述测试信号；采样器，用于对所述测试信号进行采样，以输出采样电压；比较器，用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果；确定部件，用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致；和定时校准部件，用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间，从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。

    测试装置
    8.
    发明公开
    测试装置 失效

    公开(公告)号：CN1842715A

    公开(公告)日：2006-10-04

    申请号：CN200480024340.2

    申请日：2004-09-10

    申请人： 爱德万测试株式会社

    发明人： 佐藤浩

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/31937 ,  G01R31/3191

    摘要： 一种测试装置，具有测试模块、主信号供给部，及从信号供给部。测试模块供给至电子元件。主信号供给部依照被给予的时序信号的相位而生成第一时序信号，并将其供给到测试模块。从信号供给部接收自主信号供给部而来的时序信号，生成第二时序信号并供给到测试模块，此第二时序信号用以控制测试模块提供给电子元件的测试图案。从信号供给部具有相位调整电路，其通过延迟自主信号供给部接收的时序信号，使主信号供给部输出第一时序信号的时序，与从信号供给部输出第二时序信号的时序约略相同。