一种铁素体晶界显示方法及晶粒度评定方法

    公开(公告)号:CN118011049A

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202311799985.4

    申请日:2023-12-25

    IPC分类号: G01Q30/20 G01Q30/02

    摘要: 本发明公开了一种铁素体晶界显示方法及晶粒度评定方法。本发明提供的铁素体晶粒度评定方法,其包括:采集断口为解理形貌的试样的二次电子图像,通过观察试样二次电子图像的解理形貌,以每个解理面代表一个晶粒大小,获取铁素体晶界信息,然后采用上述采集的二次电子图像进行晶粒度的尺寸测量,以每个解理面代表一个晶粒大小,逐一测量每张二次电子图像上的至少3个解理面最大尺寸并取平均值,将所有二次电子图像计算的平均值再次平均并与标准平均晶粒直径对照,得出晶粒度级别。本发明中使用比较法进行铁素体晶粒度的评定,无需进行金相制样和腐蚀处理,能够较为准确的得出铁素体晶粒度级别。

    一种轴承钢显微孔隙检测方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113109371A

    公开(公告)日:2021-07-13

    申请号:CN202110390177.7

    申请日:2021-04-12

    IPC分类号: G01N23/04 G01N23/20

    摘要: 一种轴承钢显微孔隙检测方法,包括以下步骤:S1、取样:沿钢材轧制方向截取试样;S2、刻槽:在试样横截面中心线上开一个贯穿试样整个横截面的V型槽;S3、热处理:对试样进行淬火、回火处理;S4、打断:沿试样刻槽处,将试样打断;S5、检测:将打断后的试样放入扫描电镜中,对断口形貌进行观察,检测显微孔隙,通过观察断口上存在是否存在光滑的自由结晶面区域以判断是否存在显微孔隙。该方法可有效避免由于金相试样制备造成的显微孔隙假象,提高显微孔隙检测的准确性。

    一种径向线辅助画尺
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN213731711U

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN202021782532.2

    申请日:2020-08-24

    IPC分类号: B25H7/04

    摘要: 本实用新型公开一种径向线辅助画尺,包括:尺板,尺板具有用于辅助画直线的侧边;定位构件,定位构件设于尺板,定位构件设有两个,两所位装置分别对称设地设置于侧边的两侧,定位构件用于定位于待画弧形工件的弧边处。本实用新型通过将尺板置于弧形工件的表面,两定位构件定位于弧形工件的弧边处,以使尺板的侧边处于弧形工件的直径所在直线,以借尺板的侧边画出该直径的径向线,该辅助画尺结构简单,操作方便,能够快捷的确定并辅助画出弧形工件的直径径向线,同时,替代了以往采用人工判断弧形工件的径向,具有较高准确性,也保证了圆钢在检测项目中检测的准确性。