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公开(公告)号:CN106252332A
公开(公告)日:2016-12-21
申请号:CN201610273177.8
申请日:2016-04-28
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: H01L23/64
CPC classification number: H01C7/008 , H01C1/012 , H05K1/0201 , H05K1/0268 , H05K1/141 , H05K2201/049 , H05K2201/10022 , H01L23/647
Abstract: 本发明提供热敏电阻搭载装置及热敏电阻部件。在不限制布线层的布局的情况下在基底基板设置热敏电阻。提供一种热敏电阻搭载装置,具备绝缘性的基底基板和设置于基底基板的上方的热敏电阻部件,热敏电阻部件具有绝缘性基板、设置于绝缘性基板的上方的电极、以及设置于绝缘性基板的上方,并与电极电连接的热敏电阻。
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公开(公告)号:CN112652594A
公开(公告)日:2021-04-13
申请号:CN202010869563.X
申请日:2020-08-26
Applicant: 富士电机株式会社
Inventor: 山本纱矢香
Abstract: 在半导体装置中优选能够抑制电压和电流中的振荡和噪声的发生。本发明提供一种半导体装置,包括:多个电路部;以及由板状的导电材料形成并连接于任一个电路部的第一连接部和第二连接部,第一连接部和第二连接部的各个主面相对而配置,第一连接部和第二连接部分别具有与电路部连接的电路连接端部和对主面的电流路径进行限制的路径限制部,在路径限制部和电路连接端部之间的电流路径流通的电流的方向在第一连接部和第二连接部不同。在路径限制部与电路连接端部之间的电流路径流通的电流的方向优选在第一连接部和第二连接部相反。
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公开(公告)号:CN111164875B
公开(公告)日:2023-10-24
申请号:CN201980004824.7
申请日:2019-03-07
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种半导体装置,具备:半导体芯片;第1电流输入输出部,其与半导体芯片电连接;第2电流输入输出部,其与半导体芯片电连接;3个以上的导通部,其在第1电流输入输出部与第2电流输入输出部之间设置有半导体芯片;以及电流路径部,其具有与3个以上的导通部分别导通的电流路径,电流路径部包含多个狭缝。
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公开(公告)号:CN111164875A
公开(公告)日:2020-05-15
申请号:CN201980004824.7
申请日:2019-03-07
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种半导体装置,具备:半导体芯片;第1电流输入输出部,其与半导体芯片电连接;第2电流输入输出部,其与半导体芯片电连接;3个以上的导通部,其在第1电流输入输出部与第2电流输入输出部之间设置有半导体芯片;以及电流路径部,其具有与3个以上的导通部分别导通的电流路径,电流路径部包含多个狭缝。
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