过热检测装置及半导体装置

    公开(公告)号:CN107534016A

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201680025322.9

    申请日:2016-10-04

    Inventor: 岩田英树

    Abstract: 实现温度检测精度下降的抑制。过热检测装置(1)具备:温度传感器部(1a)、检测部(1b)和滤波器部(1c)。温度传感器部(1a)检测温度并输出温度检测信号(Temp)。检测部(1b)具有用于判别温度处于正常状态的第一阈值、和用于判别温度处于过热状态的第二阈值,并以内部接地为基准进行动作。检测部(1b)根据温度检测信号(Temp)的检测电平相对于第一阈值和第二阈值的位置关系,识别正常状态或过热状态而输出状态信号(s0)。滤波器部(1c)对伴随着内部接地的电位波动的状态信号(s0)的振荡进行滤波处理。

    半导体装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111684722B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN201980011526.0

    申请日:2019-08-08

    Inventor: 岩田英树

    Abstract: 具备:输出元件(1),其具有与电源侧主电极连接的电源侧电极区及与输出侧主电极连接的输出侧电极区,该输出元件使主电流流至电源侧电极区与输出侧电极区之间;内部电路(11),其具有用于检测异常的传感器电路(12b);以及封装,其内置输出元件和内部电路,并且具有主引线端子(9a)和副引线端子(9b)。主引线端子将构成传感器电路的主检测电路(3a)的布线中的中间节点引出到外部,副引线端子将能够与主检测电路分离的副检测电路(3b)的端子引出到外部,在外部,该副引线端子能够与主引线端子连接,通过主引线端子与副引线端子的连接状态来变更传感器电路的电路连接,从而使内部电路(11)的至少一部分作为对用于检测异常的基准值进行变更的基准值变更电路来发挥功能。

    半导体装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111684722A

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201980011526.0

    申请日:2019-08-08

    Inventor: 岩田英树

    Abstract: 具备:输出元件(1),其具有与电源侧主电极连接的电源侧电极区及与输出侧主电极连接的输出侧电极区,该输出元件使主电流流至电源侧电极区与输出侧电极区之间;内部电路(11),其具有用于检测异常的传感器电路(12b);以及封装,其内置输出元件和内部电路,并且具有主引线端子(9a)和副引线端子(9b)。主引线端子将构成传感器电路的主检测电路(3a)的布线中的中间节点引出到外部,副引线端子将能够与主检测电路分离的副检测电路(3b)的端子引出到外部,在外部,该副引线端子能够与主引线端子连接,通过主引线端子与副引线端子的连接状态来变更传感器电路的电路连接,从而使内部电路(11)的至少一部分作为对用于检测异常的基准值进行变更的基准值变更电路来发挥功能。

    过热检测装置及半导体装置

    公开(公告)号:CN107534016B

    公开(公告)日:2020-03-24

    申请号:CN201680025322.9

    申请日:2016-10-04

    Inventor: 岩田英树

    Abstract: 实现温度检测精度下降的抑制。过热检测装置(1)具备:温度传感器部(1a)、检测部(1b)和滤波器部(1c)。温度传感器部(1a)检测温度并输出温度检测信号(Temp)。检测部(1b)具有用于判别温度处于正常状态的第一阈值、和用于判别温度处于过热状态的第二阈值,并以内部接地为基准进行动作。检测部(1b)根据温度检测信号(Temp)的检测电平相对于第一阈值和第二阈值的位置关系,识别正常状态或过热状态而输出状态信号(s0)。滤波器部(1c)对伴随着内部接地的电位波动的状态信号(s0)的振荡进行滤波处理。

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