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发明公开
半导体存储器及分析半导体存储器故障的方法无效

公开(公告)号：CN1835119A

公开(公告)日：2006-09-20

申请号：CN200610067888.6

申请日：2006-03-14

申请人： 尔必达存储器股份有限公司

发明人： 堂野千晶

IPC分类号： G11C11/406 , G11C29/00

CPC分类号： G11C29/50 , G11C11/401 , G11C11/406 , G11C29/02 , G11C29/18 , G11C29/50016 , G11C2029/3602

摘要： 当计数器输出信号(104)采用与特定地址有关的预定值时，计数器控制器(10)停止刷新计数器(20)的计数器操作，以将计数器输出信号(104)保持在恒定值。维持刷新特定地址的状态，并且在该状态下完成故障分析。