一种并联电抗器损耗测量的试验回路结构及试验方法

    公开(公告)号:CN111650442B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN202010533339.3

    申请日:2020-06-11

    Abstract: 本发明涉及一种并联电抗器损耗测量的试验回路结构,包括:变频电源、励磁变压器、中间变压器、补偿电容器组;所述的变频电源与励磁变压器电连接,所述励磁变压器分别与中间变压器和并联电抗器试品连接,并联电抗器试品与中间变压器,所述中间变压器与补偿电容器组连接。本发明还涉及一种并联电抗器损耗测量的试验方法。本发明可有效减少试验设备,提高试验安全系数,同时该方法还能大大简化了试验回路接线,减少试验人员工作量,提高工作效率;可有效减小电源容量,又避免了传统方法中发电机组易产生自励磁的风险;解决了传统试验方法中主回路稳定性差的弊端,试验时无功补偿更加方便、快捷,操作方法简单,操作周期短,安全系数高。

    一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法

    公开(公告)号:CN114113787A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202111179029.7

    申请日:2021-10-09

    Abstract: 本发明涉及一种对两个低压绕组同时进行直流电阻试验的方法,适用于轴向双分裂变压器,将轴向双分裂变压器试品与直流电阻测量仪器连接组成试验回路,直流电阻测量仪器用来同时测量两个低压绕组的直流电阻;直流电阻测量仪的电压端子U1+和电流输出端子I+分别连接第一低压绕组的a1端子,直流电阻测量仪的电压端子U1‑连接第一低压绕组的b1端子;直流电阻测量仪的电压端子U2‑和电流输出端子I‑分别连接第二低压绕组的a2端子,直流电阻测量仪的电压端子U2+连接第二低压绕组的b2端子;通过外部接线连接b1端子和b2端子。本试验方法,利用轴向双分裂变压器的特点,给两个低压绕组采用头尾反向励磁的试验方法,能够快速的同时测量出两个低压绕组的直流电阻。

    一种低频变压器的空载和负载试验方法及系统

    公开(公告)号:CN114019266A

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202111125201.0

    申请日:2021-09-24

    Abstract: 本发明涉及一种低频变压器的空载和负载试验方法,连接变频电源、中间变压器和待试验低频变压器,中间变压器高压侧连接功率分析仪,功率分析仪集成磁通门电压互感器PT和电流互感器CT;空载试验时,中间变压器给待试验低频变压器提供空载试验电源,功率分析仪对测量的电压U、电流I及功率因数角Ψ通过公式最终测量出试品的空载损耗;负载试验时,电容器组并联在中间变压器的出口侧,中间变压器的高压侧给待试验低频变压器提供负载试验电源,功率分析仪对测量的电压U、电流I及功率因数角Ψ通过公式最终测量出试品的负载损耗。本发明还涉及一种低频变压器的空载和负载试验系统。本发明配合功率分析仪,实现了低频变压器的空载和负载试验。

    一种三相并联电抗器损耗测试方法及系统

    公开(公告)号:CN114019238A

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN202111117891.5

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本发明涉及一种三相并联电抗器损耗测试方法,在动力电源和三相中间变压器之间接入中间变压器用于系统升压,在动力电源和中间变压器之间接入补偿电抗器用于补偿系统感性无功,在中间变压器和三相中间变压器之间接入补偿电容器用于补偿系统无功,三相中间变压器的高压三相绕组头尾分别引出;在三相中间变压器和被试品三相并联电抗器之间连接电流比较仪,标准电容连接至被试品三相并联电抗器的套管端部,电流比较仪和标准电容之间连接介质损耗电桥测量介质损耗因数tanδ,计算出三相并联电抗器损耗P,P=U*I*tanδ。本发明还涉及一种三相并联电抗器损耗测试系统。本发明损耗测试方法和系统,系统结构简单、连接快速方便,适用于三相并联电抗器损耗测试要求。

    一种对多台电抗器同时进行试验的系统和方法

    公开(公告)号:CN112305312A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011142361.1

    申请日:2020-10-22

    Abstract: 本发明涉及一种对多台电抗器同时进行试验的系统,包括同步发电机组,所述的同步发电机组的输出端与中间试验变压器的低压a‑x连接;中间试验变压器的高压A与补偿电容器组C的首端连接,中间试验变压器的高压X与补偿电容器组C的尾端;在补偿电容器组C的首端和尾端后面的电路之间,依次并联设置各电抗器的第一试验支路、第二试验支路、……、第n试验支路。本发明还涉及一种对多台电抗器同时进行试验的方法,通过阻抗计算公式Z=U/I,计算出各并联电抗器的电抗值;通过损耗计算公式P=U*I*cosφ,计算出各并联电抗器的损耗值。本发明的试验系统接线方便,易于操作,降低了试验成本,提高了试验效率。

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