公开(公告)号：CN105980864B

公开(公告)日：2019-07-23

申请号：CN201580006842.0

申请日：2015-01-30

申请人： 兴亚株式会社

发明人： 仲村圭史 ,  龟子健司

IPC分类号： G01R15/00

CPC分类号： G01R15/146 ,  G01R1/203 ,  G01R19/0084 ,  G01R19/0092 ,  G01R35/005

摘要： 本发明提供能够将汇流条、基板等以足够的强度容易地固定到分流电阻器，且以最低限度完成电极自身的加工的分流电阻器、和包含该分流电阻器的电流检测装置。分流电阻器(10)是在该电阻器的电极(12)上固定有与该电极为不同构件的拧紧构件(螺栓(14)和螺母(15))的构造。此外，电流检测装置包含具备至少一对电极(12)的分流电阻器(10)，包括被固定在至少一个电极(12)上且与该电极为不同构件的一方拧紧构件(14)和与一方拧紧构件形成组的另一方拧紧构件(15)，在一方拧紧构件和另一方的拧紧构件之间配置规定的夹设构件(20)并拧紧。在此，规定的夹设构件(20)优选是安装有电流检测电路的基板和/或汇流条。

公开(公告)号：CN105021967B

公开(公告)日：2019-06-14

申请号：CN201510182934.6

申请日：2015-04-17

申请人： 西门子公司

发明人： A.达斯 ,  I.H.利斯弗约德

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R19/00

CPC分类号： G01R31/2608 ,  G01R19/0084 ,  G01R31/2617 ,  G01R31/2642 ,  G01R31/42 ,  H03K2217/0027

摘要： 描述了用于精确测量跨半导体开关元件的电压降的装置。装置包括（a）包括第一保护元件、第一阻抗元件和电压源的第一电路路径，其中第一电路路径被适配成连接在半导体开关元件的第一与第二端子之间；（b）形成在第一与第二输出端子之间的第二电路路径，第二电路路径包括第二保护元件和第二阻抗元件，其中第二保护元件等同于第一保护元件，并且其中第二阻抗元件等同于第一阻抗元件，和（c）用于调节第二电路路径中的电流使得第二电路路径中的电流等于第一电路路径中的电流的调节电路，其中半导体开关元件的第一与第二端子之间的电压降等于由电压源提供的电压与第一和第二输出端子之间的电压降之间的差。另外，描述海底设备、监控系统和方法。

公开(公告)号：CN109683121A

公开(公告)日：2019-04-26

申请号：CN201910088761.X

申请日：2019-01-30

申请人： 国网黑龙江省电力有限公司大兴安岭供电公司 ,  国家电网有限公司

发明人： 吴迪 ,  魏悦 ,  林庆华 ,  魏庆繁 ,  赵宝清 ,  刘晓磊 ,  王学军 ,  刘军 ,  王和意

IPC分类号： G01R35/04 ,  G01R19/00

CPC分类号： G01R35/04 ,  G01R19/0084

摘要： 反窃电检查装置。在反窃电检测时，检测者常常使用电压表检查是否有人使用欠压法或移相法进行窃电，检测时需要先用电压表检测电表表前的电压，然后用电压表检测电表表尾的电压，最后进行对比计算，推测出是否被窃电，而现有的电压表或万用表设计比较传统，对于反窃电的电表检测，操作起来很不方便，降低了反窃电工作效率。本发明组成包括：轨道杆（2），所述的轨道杆上套有两个套筒（3），所述的套筒与电压表（1）通过连杆（4）连接，所述的电压表的正负极都连接有测量杆（5），所述的测量杆上焊接有测量头（7）。本发明用于反窃电检查装置。

公开(公告)号：CN109633212A

公开(公告)日：2019-04-16

申请号：CN201811525701.1

申请日：2018-12-13

申请人： 程倍勇 ,  烟台科思摩思电机有限公司

发明人： 程倍勇

IPC分类号： G01R1/02 ,  G01R19/00

CPC分类号： G01R1/02 ,  G01R19/0084

摘要： 本发明涉及一种移动加电式电压信号检出机构，包括载体单元，载体单元上设有印刷电阻膜，载体单元上还设有与印刷电阻膜形成接通关系的无电阻导电膜；第一电刷单元，第一电刷单元上设有第一电刷组，第一电刷单元通过第一电刷组与载体单元相对滑动，第一电刷组形成有电刷间隔段；第二电刷单元，第二电刷单元上设有第二电刷组，第二电刷单元通过第二电刷组与载体单元相对滑动，第二电刷组穿过电刷间隔段与载体单元接触，第二电刷组相对滑动于第一电刷组形成的电刷间隔段中。本发明避免了电压位置不变，电刷始终在特定位置极少范围内来回滑动而造成局部磨损严重，能够用于具有检出电阻体膜表面特定位置的电压产品，使用寿命长，成本低，灵活性强。

公开(公告)号：CN109557447A

公开(公告)日：2019-04-02

申请号：CN201811067791.4

申请日：2018-09-13

申请人： 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司

发明人： 张薄军 ,  姜胜林 ,  赵俊 ,  朱锦茂 ,  康远潺

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R19/00 ,  G01R23/02

CPC分类号： G01R31/2851 ,  G01R19/0084 ,  G01R23/02

摘要： 本发明公开了一种电源管理类IC测试系统，其特征在于，包括：OS参数测试模块、输出电压测试模块、频率参数测试模块、接口通讯模块、显示模块、功能选择模块和CPU功能模块；所述接口通讯模块主要包括：TTL接口和RS232接口，TTL接口主要用来机械手或分选机进行通讯，实现批量生产过程中的好坏分类，RS232接口主要用于和PC机通讯，用来实现将测试过程中的相关数据上传到PC端接收；所述频率参数测试模块，就是测试电源管理芯片的实际工作频率及其他需要测试的频率；所述输出电压测试模块，主要用于测试电源管理芯片的输出端电压值。本发明与通用测试系统相比，本测试系统增添了频率测试模块和输出电压测试模块，少了需要等待的时间，提高测试的合格率。

公开(公告)号：CN109490747A

公开(公告)日：2019-03-19

申请号：CN201811067795.2

申请日：2018-09-13

申请人： 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司

发明人： 潘中荣 ,  姜胜林 ,  赵俊 ,  康远潺 ,  朱锦茂

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R19/00 ,  G01R23/02

CPC分类号： G01R31/2851 ,  G01R19/0084 ,  G01R19/0092 ,  G01R23/02 ,  G01R31/2837

摘要： 本发明公开了一种LED闪灯类芯片测试系统，包括MCU模块与FPGA模块，OS测试模块，用于检测IC管脚上的保护二极管是否完好；IDD测试模块，用于测试LED闪灯芯片工作时的电流大小，评估芯片工作时的功率损耗；SINK CURRENT测试模块，用于测试LED闪灯芯片输出驱动电流大小；FREQ测试模块，用于测量LED闪灯芯片的工作主频率。本发明所述的一种LED闪灯类芯片测试系统，实现了对该类芯片IC的全功能参数测试，为该类IC的实际测试生产提供了一种低成本的测试解决方案，同时，在实际的生产过程中，解决了通用测试设备成本高等方面的不足，使生产测试的灵活性和并行测试SITE数大大提高，缩短生产测试周期，节约成本，极大的提高产品利润率，带来更好的使用前景。

公开(公告)号：CN109188045A

公开(公告)日：2019-01-11

申请号：CN201810585518.4

申请日：2018-06-08

申请人： 中国电力科学研究院有限公司 ,  国家电网有限公司 ,  国网北京市电力公司

发明人： 盛万兴 ,  胡丽娟 ,  林挚 ,  刘科研 ,  贾东梨 ,  刁赢龙 ,  尹忠东 ,  董伟杰 ,  何开元 ,  叶学顺 ,  白牧可 ,  吕琛 ,  刘杨涛

IPC分类号： G01R19/00

CPC分类号： G01R19/0084

摘要： 本发明提供了一种配电网线路电压的平差方法和装置，先根据量测的线路数据采用预先设定的限值平差方法确定平差处理后的电阻误差限值和电抗误差限值，然后根据平差处理后的电阻误差限值和电感误差限值计算线路首末端电压幅值误差限值，最后根据线路首末端电压幅值误差限值对量测的线路首末端电压幅值进行平差处理，能够为配电网的在线数据监测实时提供精确数据，保证配电网的安全稳定经济运行，减少用户停电时间，且计算量小，实时性高，能够满足在线计算的要求，同时又充分利用了部分历史数据，保证了数据的冗余量。

公开(公告)号：CN108872673A

公开(公告)日：2018-11-23

申请号：CN201810442482.4

申请日：2018-05-10

申请人： 特克特朗尼克公司

发明人： M.J.门德 ,  R.A.布曼

IPC分类号： G01R15/24 ,  G01R19/00

CPC分类号： G01R13/347 ,  G01R1/06788 ,  G01R15/241 ,  G01R15/242 ,  G01R19/0084

摘要： 提供了高输入阻抗电光传感器。本公开包括一种电光传感器。电光传感器包括从被测设备（DUT）接收测试信号的测试信号输入。偏置电路用于生成偏置信号。电光传感器还包括采用光学输入、光学输出和偏置输入的马赫‑曾德调制器（MZM）。MZM被配置成经由光学输入接收光学载波信号。MZM还在偏置输入上接收测试信号和偏置信号二者。在由偏置信号选择的模式中操作的同时，MZM将来自偏置输入的测试信号调制到光学载波上以生成光学信号。MZM还通过光学输出来输出光学信号。

公开(公告)号：CN108738350A

公开(公告)日：2018-11-02

申请号：CN201780013783.9

申请日：2017-03-02

申请人： 德克萨斯仪器股份有限公司

发明人： S·R·巴尔 ,  G·L·史密斯 ,  D·瑞兹弗拉瑞斯

IPC分类号： G01R19/00 ,  G01R31/26 ,  G01R27/02

CPC分类号： G01R27/02 ,  G01R15/04 ,  G01R19/0084 ,  G01R31/2617 ,  G01R31/2621 ,  G01R31/2639

摘要： 在所描述的用于在切换期间测量高压晶体管(M0)的漏极端子(106)的漏极电压的测量电路的示例中，测量电路包括衰减器电路(102)和差分放大器(124)，衰减器电路(102)用于产生衰减器输出信号(VDCLAMP)，该衰减器输出信号(VDCLAMP)表示当高压晶体管(M0)导通时，高压晶体管(M0)两端的电压，差分放大器(124)用于根据衰减器输出信号(VDCLAMP)提供放大的感测电压信号(VO)。衰减器电路(102)包括：钳位晶体管(M1)，其与高压晶体管(M0)的漏极端子(106)耦合以向第一内部节点(110)提供感测信号(VSENSE)；电阻分压器电路(116)，用于基于感测信号(VSENSE)提供衰减器输出信号(VDCLAMP)；以及第一钳位电路(Z1)，用于在高压晶体管(M0)关断时限制感测信号电压(VSENSE)。

公开(公告)号：CN105247376B

公开(公告)日：2018-09-04

申请号：CN201480030949.4

申请日：2014-05-30

申请人： 亚德诺半导体集团

发明人： S·A·A·达内斯 ,  W·M·J·霍兰德 ,  J·斯图尔特 ,  J·E·D·赫维茨

IPC分类号： G01R21/133 ,  G01R1/20 ,  G01R11/25 ,  G01R11/66 ,  G01R15/14 ,  G01R19/00 ,  G01R19/25

CPC分类号： G01R17/00 ,  G01R1/203 ,  G01R15/144 ,  G01R15/146 ,  G01R17/02 ,  G01R19/0084 ,  G01R19/0092 ,  G01R19/16542 ,  G01R19/2513 ,  G01R27/08 ,  G01R27/14

摘要： 本发明涉及电气测量设备(10)。电气测量设备(10)包括测量装置(20，24)，测量装置(20，24)被构造为关于电路(12，14，16，18)布置，电路(12，14，16，18)产生电信号，测量装置(20，24)在如此布置时操作用于测量电信号。电气测量设备(10)还包括信号源(22)，信号源(22)操作用于将参考输入信号施加于测量装置(20，24)，由此来自测量装置的输出信号包括与电信号对应的电输出信号和与参考输入信号对应的参考输出信号，参考输入信号具有在多个周期中的每个周期上重复的基本上分段恒定的形式。电气测量设备(10)还包括处理设备(26)，处理设备(26)操作用于：确定至少一个累积表示，累积表示的确定包括对输出信号的多个接收的部分求和，所述多个接收的部分中的每个部分对应于参考输入信号的周期的至少一部分并且是相同部分；以及根据所述至少一个累积表示和参考输入信号，确定用于测量装置的传递函数、用于测量装置的传递函数的变化和电信号中的至少一个。