一种CR-39测量氡气辐射浓度的方法、系统及设备

    公开(公告)号:CN111413724B

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202010129451.0

    申请日:2020-02-28

    发明人: 陈瀚 蔡述庭

    IPC分类号: G01T1/167 G06N3/04

    摘要: 本申请公开了一种CR‑39测量氡气辐射浓度的方法、系统及设备,包括:获取CR‑39样品的信号图像;将信号图像输入到浓度测量模型的第一层卷积神经网络中进行校准,获取包括候选alpha粒子信号窗口的信号图像;将校准后的信号图像输入至第二层卷积神经网络中进行再次校准,得到进一步校准后的信号图像;将进一步校准后的信号图像输入至浓度测量模型的第三层卷积神经网络中,得到包括alpha粒子信号定位的图像;计算包括alpha粒子信号定位的图像中的alpha粒子的数量,完成对氡气浓度的检测。本申请解决了现有方法中固有噪声和alpha粒子信号难以区分的技术问题。

    一种CR-39测量氡气辐射浓度的方法、系统及设备

    公开(公告)号:CN111413724A

    公开(公告)日:2020-07-14

    申请号:CN202010129451.0

    申请日:2020-02-28

    发明人: 陈瀚 蔡述庭

    IPC分类号: G01T1/167 G06N3/04

    摘要: 本申请公开了一种CR-39测量氡气辐射浓度的方法、系统及设备,包括:获取CR-39样品的信号图像;将信号图像输入到浓度测量模型的第一层卷积神经网络中进行校准,获取包括候选质子信号窗口的信号图像;将校准后的信号图像输入至第二层卷积神经网络中进行再次校准,得到进一步校准后的信号图像;将进一步校准后的信号图像输入至浓度测量模型的第三层卷积神经网络中,得到包括质子信号定位的图像;计算包括质子信号定位的图像中的质子的数量,完成对氡气浓度的检测。本申请解决了现有方法中固有噪声和质子信号难以区分的技术问题。

    一种点胶轮廓检测装置及点胶系统

    公开(公告)号:CN216857253U

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202220220674.2

    申请日:2022-01-25

    IPC分类号: B05C11/10 B05C5/02

    摘要: 本实用新型提出一种点胶轮廓检测装置及点胶系统,所述检测装置包括同轴光源发射器、图像采集装置、支架、传送带输送机和控制系统;支架架设在传送带输送机的两侧,同轴光源发射器和图像采集装置设置在支架上;控制系统的输出端分别与光源发射器、图像采集装置和传送带输送机的控制端连接,图像采集装置的输出端与控制系统的输入端连接。采用同轴光源对点胶工件进行打光,避免了由于点胶工件表面的不平整度且反光较大,导致在检测某些有颜色的胶水时会出现胶水过曝并与背景无关信息融合在一起的情况,提高了点胶轮廓图像的成像的准确性和重现性,得到高质量的成像图像。

    一种电子元器件缺陷检测筛分装置

    公开(公告)号:CN221515271U

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202323459911.4

    申请日:2023-12-18

    IPC分类号: B07C5/34 B07C5/02 B07C5/36

    摘要: 本实用新型提供一种电子元器件缺陷检测筛分装置,包括传送带,分别设于传送带始端和末端且能够同时抓取多个工件的上料机械臂和下料机械臂,分别位于上料机械臂和下料机械臂的抓取范围之内的上料盘和良品下料盘,设于传送带一侧且拍摄范围朝向传送带的视觉检测装置,设于传送带一侧且位于视觉检测装置和下料机械臂之间的推杆组件,位于传送带末端且用于承接被推杆组件推出后无法被下料机械臂抓取的工件的次品收集盘,以及控制系统。本实用新型克服现有电子元器件视觉缺陷检测生产效率受限于机械臂运行时间的不足,能够一次进行多个电子元器件的缺陷检测,并自动筛分出不良品,大大提高检测效率。

    一种光学封装元件的缺陷检测装置

    公开(公告)号:CN221506716U

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202323459943.4

    申请日:2023-12-18

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/01 G01N21/13

    摘要: 本实用新型涉及光学封装设备技术领域,更具体地,涉及一种光学封装元件的缺陷检测装置,包括工作台,分别设于工作台上的上料盘、上料机械手组件、检测工作部、下料机械手组件、下料盘和控制器,控制器控制上料机械手组件从上料盘抓取待检测的工件并放置到检测工作部,控制器控制下料机械手组件从检测工作部抓取检测后的工件并放置到下料盘。本实用新型克服现有检测方法主要依赖人工观察和判断,检测速度慢,且检测结果不准确的不足,本实用新型能够自动、快速、准确地检测光学封装元件的瑕疵,降低检测成本并提高生产效率,为光学封装元件生产的质量控制和生产效率提供了有力的支持。

    一种视觉引导的机械臂
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN217494259U

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN202220236086.8

    申请日:2022-01-27

    IPC分类号: B25J9/16 B25J19/02

    摘要: 本实用新型涉及机器人机械臂技术领域,尤其涉及一种视觉引导的机械臂,包括机械臂、安装于机械臂底部的行走机构、连接于机械臂的机械抓手、用于获取目标物和机械臂位置的视觉模块以及分别与所述机械臂、机械抓手、行走机构和视觉模块相连的控制系统,所述控制系统包括计算机主机以及分别与计算机主机相连的机械臂机箱、抓手控制板和底座控制器,采用视觉模块对机械臂以及目标物进行位置获取,使机械臂可以利用视觉模块进行识别,结构简单;通过在机械臂的底部加装行走机构,有利于突破现有机械臂工作范围局限在固定区域内的限制,工作范围更大,灵活度更好,有利于扩大装置的使用范围,通过在传统机械臂的基础上加装用于控制机械臂的控制系统。