一种开关柜运行监控系统及方法

    公开(公告)号:CN113850787B

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202111138749.9

    申请日:2021-09-27

    摘要: 本发明公开了一种开关柜运行监控系统及方法,涉及开关柜监测技术领域,其系统通过探头模组的视场覆盖开关柜的所有空间,通过可见光摄像头和热红外摄像头获取到同一视场内的可见光图像和热红外图像,并在两个图像中添加时间戳,再通过数据中继模块对相同的时间戳的可见光图像和热红外图像存储至同一数据包,并将数据包进行压缩处理,提高传输效率,通过后台监控模块计算两个相邻时间戳的热红外图像的相应位置下的所有像素点的温度差值,若温度差值大于预设温度阈值,则发出故障信号,根据预设的参考坐标系在可见光图像中确定故障部件坐标,以便快速确定故障部件,从而提高了监测的时效性及运维效率。

    一种防谐型低压无功补偿装置

    公开(公告)号:CN113937784B

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202111220478.1

    申请日:2021-10-20

    IPC分类号: H02J3/18 H02J3/01

    摘要: 本申请公开了一种防谐型低压无功补偿装置,包括:控制器、电抗器、主电容器、电容控制保护模块、电容电流保护模块、温控保护模块与自动补偿模块;电容控制保护模块包括:避雷器与电容控制保护器;避雷器用于限制过电压;电容控制保护器用于防谐波干扰;电容电流保护模块包括:电容电流保护器;电容电流保护器用于监测主电容器的过电流值与实时电流值;温控保护模块包括:温控保护器与降温器。通过电容控制保护模块可以降低谐波对控制器的干扰以及过电压保护,通过电容控制保护模块可以防止谐波电流对电容器内部产生过电流损坏,通过自动补偿模块可以当负荷处于轻载或空载时,对回路进行自动补充从而提高功率因数。

    一种金属表面氧化层温度测量方法

    公开(公告)号:CN112633292A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202010905957.6

    申请日:2020-09-01

    摘要: 本发明涉及测量技术领域,更具体地涉及一种金属表面氧化层温度测量方法,具体步骤如下:(1)建立不同温度、不同氧化程度图像库,拍摄待测设备在固定光源照射下的照片;(2)对图像库的图像进行反射光色度信息提取,并建立只需6个特征量的数据集;(3)对数据集进行种类划分,并训练建立人工神经网络;(4)利用训练得到的神经网络进行温度预测;(5)对非数据库照片进行温度预测,完成拍摄照片的温度的测量。本发明利用造价相对低廉的可见光相机,通过提取被监测物体图像的单个像素色度特征,为监测因设备缺陷造成的温升提供了一种新的简便且低成本的解决方案;由于该方法不依赖热辐射,而是光反射,因此可广泛用于常温金属表面氧化层温度的测量。

    一种免拆CVT一次接线自激法试验的介质损耗测量仪

    公开(公告)号:CN116047130A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202211633797.X

    申请日:2022-12-19

    摘要: 本发明提供了一种免拆CVT一次接线自激法试验的介质损耗测量仪,包括介质损耗测量仪本体,还包括在仪器本体中,升压变压器经CVT隔离开关与标准电容Cn连接,还经过CVT隔离开关以及CVT倒线开关与测量电路连接;当仪器本体进行自激法测量时,升压变压器的CVT低压输出开关接通,CVT隔离开关断开,断开CVT倒线开关以测量电压互感器的主电容C1;接通CVT倒线开关以分压电容C2,此时主电容C1作标准电容;仪器本体通过将低压输出端子接到电压互感器的二次绕组,通过采集XL端的电流幅值和相位,实现免拆一次接线的自激法测量,从而避免登高作业带来的安全风险问题,同时避免拆线导致热镀锌螺丝热镀锌层磨穿被腐蚀。

    一种金属表面氧化层温度测量方法

    公开(公告)号:CN112633292B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202010905957.6

    申请日:2020-09-01

    摘要: 本发明涉及测量技术领域,更具体地涉及一种金属表面氧化层温度测量方法,具体步骤如下:(1)建立不同温度、不同氧化程度图像库,拍摄待测设备在固定光源照射下的照片;(2)对图像库的图像进行反射光色度信息提取,并建立只需6个特征量的数据集;(3)对数据集进行种类划分,并训练建立人工神经网络;(4)利用训练得到的神经网络进行温度预测;(5)对非数据库照片进行温度预测,完成拍摄照片的温度的测量。本发明利用造价相对低廉的可见光相机,通过提取被监测物体图像的单个像素色度特征,为监测因设备缺陷造成的温升提供了一种新的简便且低成本的解决方案;由于该方法不依赖热辐射,而是光反射,因此可广泛用于常温金属表面氧化层温度的测量。