一种绝缘子表面电位测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN119574996A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411725340.0

    申请日:2024-11-28

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子表面电位测量装置及测量方法,包括外壳,具有密闭的腔体、进气口以及排气口;高压接线组件安装于外壳,且高压接线组件的一端伸入腔体内,高压接线组件的另一端外接高压电源;抽真空组件一端穿过外壳伸入腔体内;静电探头组件包括静电探头以及驱动结构,静电探头与驱动结构安装于腔体内,且静电探头与驱动结构连接;第一中心高压导体组件,设置于腔体内,且与高压接线组件的一端连接;第二中心高压导体组件,设置于腔体内,且与第一中心高压导体组件相对设置;第一驱动组件,第二中心高压导体安装于第一驱动组件。本发明解决了现有技术中对于复杂几何形状绝缘子表面电位测量的局限性,并通过上述控制,提高了测量的效率。

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