基于光子计数技术的全日盲紫外成像定量化检测方法

    公开(公告)号:CN105301542A

    公开(公告)日:2016-02-03

    申请号:CN201510783885.1

    申请日:2015-11-13

    IPC分类号: G01R35/00 G01R31/12

    摘要: 一种基于定量化光子计数技术的全日盲紫外成像检测方法,包括采用如下公式求得紫外光子计数当量值的步骤:Σ5.5=0.33d2Σexp(0.4125-0.075d)*v*m*[1+(0.95-h)/0.95](1);光子计数时全日盲紫外检测仪增益设置值固定在量程的60%处;光子计数时在特定的区域对象中进行,且仅对单个放电位置进行计数,计数区域涵盖全部连续点,并涵盖90%以上瑞利散射引起的游离点。本发明利用全日盲紫外成像仪对电晕放电的探测,通过紫外成像仪中的紫外线和可见光双通道融合图像获取高压带电设备电晕放电的具体位置,然后通过对电晕放电位置处的紫外光子计数来对电晕放电进行定量化分析,并对测试距离、环境湿度、电压等级等影响因素进行修正,得出了优于现有标准的紫外光子检测校正公式。