公开(公告)号：CN104217767B

公开(公告)日：2017-05-03

申请号：CN201410415689.4

申请日：2014-08-21

Applicant: 广州地铁集团有限公司

Inventor： 金文涛 ,  夏耀天 ,  陈智华 ,  林惠汉 ,  游高祥 ,  李天明 ,  陈威 ,  李晓威 ,  崔佐明 ,  李元盛

IPC: G11C29/56

Abstract: 本发明提供了一种非易失性存储器测试装置及其测试方法，所述测试装置包括通信接口、单片机、地址锁存器，单片机包括第一数据引脚和第二数据引脚，地址锁存器包括输入端和输出端，地址锁存器的输入端与第一数据引脚连接，地址锁存器的输出端接至第一存储器和第二存储器的输入端，第二数据引脚接至第一存储器和第二存储器的输出端，单片机包括第八引脚和第九引脚，第八引脚接至第一存储器的供电引脚，第九引脚接至第二存储器的供电引脚，第八引脚和第一存储器的供电引脚之间连接有第一三极管，第九引脚和第二存储器的供电引脚之间连接有第二三极管。本发明提供的非易失性存储器测试装置，其可以对存储器进行掉电测试，能够检测出掉电丢失数据的情况。