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公开(公告)号：CN109636836A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201811497677.5
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
CPC classification number: G06T7/30 , G06K9/6201 , G06T7/73
Abstract: 本发明公开了一种进行虚拟标点的视觉引伸计动态测量方法，包括：将实验材料固定在拉力器两端；使用工业相机对所述实验材料进行图像采集；使用标定板对采集后的图像进行标定；对转换坐标后的图像进行设置虚拟标点，在所述图像中的两端各设置一个点，拉成一条线段，在线段上设置需要标点的个数N，生成N个两两间距离相等的区域；对上述产生的区域训练成图像模板；启动拉力器，以使实验材料受力变形，并不断采集更新图像，直至材料断裂；利用创建的图像模板对采集更新的图像进行匹配，记录它们的位置；每一张图匹配完成后，计算每个区域两两间的位移量，并将总位移量作为Y方向坐标，拉力器的拉力数据作为X方向输出，实时绘制拉伸曲线。
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公开(公告)号：CN109579721A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811496196.2
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于视觉跟踪的双轴拉伸引伸计测量方法，包括：将实验材料固定在拉力器两端；打开LED光源，使用工业相机对所述实验材料进行图像采集；使用标定板对采集后的图像进行标定，并将图像的坐标转换成世界坐标；对进行坐标转换后的图像在X轴设置A、B两个点以及在Y轴设置C、D两个点，创建ABCD四个模板；启动拉力器，获取更新实验材料受力变形的图像；利用创建的模板进行匹配对比所述更新的图像，模板匹配对比到这些发生位移的区域并记录相应的位置，获取计算A点、B点之间的距离以及获取计算C点、D点之间的距离，直至材料断裂；将拉力器的拉力数据以及所述实验材料在X轴和Y轴的位移数据绘制成拉伸曲线。
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公开(公告)号：CN108775863A
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201810263702.7
申请日：2018-03-27
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱共焦位移传感器定位装置及定位方法，所述定位装置包括：载物台、标定板、相机和处理器；所述标定板设置在载物台上，所述相机设置在所述标定板的上方，所述相机与所述处理器电连接，所述相机用于对投射了光斑的标定板进行拍摄，所述处理器用于对拍摄的图像进行处理以获取所述光谱共焦位移传感器的检测点在所述图像上的位置。采用本发明可以对所述光谱共焦位移传感器的检测点进行准确定位，以便将需要检测物体移动到该检测点上进行高度或厚度检测。
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公开(公告)号：CN109859176A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201910020333.3
申请日：2019-01-09
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种用于二极管计数的图像处理方法，至少包括以下步骤：提取X光拍摄的二极管图像，得到待处理图像；根据固定阈值在待处理图像中进行第一全局阈值分割，获得第一图像；将第一图像进行第一连通域联合，获得第二图像，并对第二图像进行预处理，获得第三图像；将第三图像进行特征提取，得到二极管区域图像；对二极管区域图像进行全局阈值分割和区域个数统计，得到二极管个数N；其中，N为大于等于1的正整数。本发明提供的一种用于二极管计数的图像处理方法，能够解决传统的封装计数耗费人力时间的缺点，达到了计数时间快、精准度高的目的。
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公开(公告)号：CN109708585A
公开(公告)日：2019-05-03
申请号：CN201811493535.1
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于视觉跟踪的无标记引伸计动态测量方法及系统，所述方法包括：步骤S1，将被测材料置于实验台进行拉伸试验，并采集图片进行保存；步骤S2，根据图片选择两处区域创建两个标志模板，以用于匹配已保存的图片；步骤S3，根据两个标志模板匹配已保存的图片，以找到图片中相应的两个标志点的坐标；步骤S4，对获取的两个标志点坐标进行相减，计算得出两个标志点的距离；步骤S5，重复步骤S3和步骤S4直至所有图片加载完成，保存引伸计的拉力数据以及两个标示点的距离数据；步骤S6，利用步骤S5的数据绘制拉伸曲线，从而获得被测材料的特性，通过本发明，可在不给拉伸材料添加任何标记的情况下实现持续跟踪目标区域目的。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109470165A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811497672.2
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的测量材料弯曲变形的引伸计测量方法，包括：将实验材料固定在拉力器两端；打开LED光源，使用工业相机对所述实验材料进行图像采集；使用标定板对采集后的图像进行标定，并将图像的坐标转换成世界坐标；在实验材料的中心处绘制一条线段，并在所述线段上设置若干个标点，以使在线段上生成若干个区域，并将所述区域训练成模板；对实验材料施加外力以使实验材料产生变形，并使用工业相机不断采集更新图像；每更新一次图像，利用已经训练好的模板将图片中相应的位置匹配出来，并将所有匹配到的区域中心点连接起来，拟合成曲线；计算出拟合曲线的曲率，线段两端的位移变化量以及延伸率。
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公开(公告)号：CN109470164A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811493618.0
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种基于视觉跟踪的有标记引伸计动态测量方法及系统，该方法包括：步骤S1，给被测材料进行标记；步骤S2，将标记后的被测材料置于实验台进行拉伸试验，并采集图片进行保存；步骤S3，根据图片选择两处区域创建两个标志模板；步骤S4，根据两个标志模板匹配已保存的图片，以找到图片中相应的两个标志点的坐标；步骤S5，根据获取的两个标志点坐标计算得出两个标志点的距离；步骤S6，保存引伸计的拉力数据以及两个标志点的距离，并重复步骤S4和步骤S5直至所有图片加载完成；步骤S7，利用步骤S6的数据绘制拉伸曲线，从而获得被测材料的特性，通过本发明，可通过给拉伸材料添加标记实现持续跟踪目标区域目的。
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公开(公告)号：CN108775863B
公开(公告)日：2020-04-28
申请号：CN201810263702.7
申请日：2018-03-27
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱共焦位移传感器定位装置及定位方法，所述定位装置包括：载物台、标定板、相机和处理器；所述标定板设置在载物台上，所述相机设置在所述标定板的上方，所述相机与所述处理器电连接，所述相机用于对投射了光斑的标定板进行拍摄，所述处理器用于对拍摄的图像进行处理以获取所述光谱共焦位移传感器的检测点在所述图像上的位置。采用本发明可以对所述光谱共焦位移传感器的检测点进行准确定位，以便将需要检测物体移动到该检测点上进行高度或厚度检测。
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公开(公告)号：CN109166116A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811012256.9
申请日：2018-08-31
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种用于芯片计数的图像处理算法，通过提取X光拍摄的半导体芯片图像，进行增强对比度、阈值分割后，利用形状面积特征提取需要处理的区域；然后对预处理后的图像进行自动阈值提取出芯片背景区域；再进行增强对比度，自动阈值后提取芯片区域；通过设置单个芯片区域的平均面积，倍数关系得到出芯片的总个数，实现计数速度快，精度较高。
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公开(公告)号：CN107959801A
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201711390163.5
申请日：2017-12-18
Applicant: 广州大学
CPC classification number: H04N5/2351 , H04N5/232
Abstract: 本发明公开了一种光源亮度控制系统及控制方法，其中，公开的所述光源亮度控制系统包括摄像头、控制装置以及至少一条形光源；所述条形光源，均包括多个排成直线的光源单体，并均用于对拍摄目标进行发光照亮；所述摄像头，用于对所述拍摄目标进行拍摄成像，以形成与所述条形光源对应的发光亮度图像；所述控制装置，用于在进行光源亮度调节时依次控制所述条形光源发光，并用于对所述发光亮度图像进行图像处理，以根据图像处理结果控制对应的所述条形光源的各个光源单体的发光亮度，从而使该条形光源能够均匀照亮所述拍摄目标。本发明能够使得拍摄出来的图像的亮度能够比较均匀。
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