公开(公告)号：CN102129003B

公开(公告)日：2014-01-22

申请号：CN201010592068.5

申请日：2010-12-13

申请人： 微探测株式会社

发明人： 金圣振 ,  李东俊 ,  边宗桓 ,  郑累利

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R1/067 ,  G01R1/07

摘要： 本发明涉及电路板检查装置，通过接触式探头向印刷在电路板的节点电极、接通交流电源后，通过电容式非接触传感器检测电压值的同时感知差分电压值或相位差，节点电极发生短路或断线时，即使电流流过断线部位，也能通过一次扫描、准确地检测。

公开(公告)号：CN102445629A

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN201110297363.2

申请日：2011-10-08

申请人： 微探测株式会社

发明人： 金圣振 ,  李东俊 ,  宋大雄 ,  殷琸

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R19/00

摘要： 本发明提供一种差动电容式传感器模块及使用该模块的用于显示面板的检查设备。当交流电源应用到形成在显示面板上的模式电极的一侧时，所述检查设备通过非接触式传感器测量的电压和通过非接触式差动传感器测量的差动电压来检查所述显示面板的交叉短路，其中，所述非接触式传感器设置成朝向位于应用所述交流电源的所述模式电极的另一侧的所述模式电极，并且在所述模式电极的纵向上将所述非接触式差动传感器设置成平行于所述非接触式传感器。

公开(公告)号：CN100565217C

公开(公告)日：2009-12-02

申请号：CN200710130125.6

申请日：2007-07-20

申请人： 微探测株式会社

发明人： 殷琸 ,  金圣振 ,  崔熙德 ,  李东俊 ,  宋大雄

IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R31/02 ,  G01R31/08

CPC分类号： G01R31/024 ,  G01R1/06788

摘要： 公开了一种用于测试导线开路和短路的设备和方法。探针被引入以与每一导线的一端相接触，施加AC电源，并且使用在所述探针中测量的电子变化来测试所述导线。当测试PCB导电线图、数据传输线或电缆时，通过使用单面探针装置可以显著地减少探针的数目，并且可以显著地减少用于测试开路或短路的必要的时间和人力。由于只在导线的一端执行测量来测试导线的开路或短路，所以当单面探针装置安装在电子装置的输入/输出端口时，可以进行开路或短路的自我诊断。

公开(公告)号：CN103033719A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210377671.0

申请日：2012-10-08

申请人： 微探测株式会社

发明人： 金圣振 ,  李东俊 ,  郑累利

IPC分类号： G01R31/02

摘要： 本文公开了一种非接触型探测器。该非接触型探测器提供有单个供电电极和多个传感器电极以及将分别放置在像素部分、电路部分和导线部分上的多个传感器电极，以为了检查显示面板中的图案电极的断路和短路部分，由此防止产生死区，改善感应的精确度以在断路检查的方面提供改善的性能，并且能将缺陷区域与其他区域区分开，以改善修复性能。

公开(公告)号：CN101625392B

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：CN200910151948.6

申请日：2009-07-06

申请人： 微探测株式会社

发明人： 殷琸 ,  金圣振 ,  李东俊

IPC分类号： G01R31/02

CPC分类号： G01R31/304 ,  G01R31/2874

摘要： 公开了一种电路衬底的检测方法，该方法用于检测具有多层的结构的电路衬底的电气性质，该方法通过控制检测环境使得露珠形成在电路衬底的表面上并探测露珠状态的改变，从而确定关于有缺陷的触点或导通孔、微导通孔和内层的电路图案的导线的热容量的变化。根据这些，可以相对于宽的区域同时进行检测，因此可以改善检测效率。另外，由于导线的温度可以通过露珠状态的改变来直接进行测量，可以节省温度测量的成本。此外，在改善检测速度的同时，可以降低用于感测宽的区域的温度的区域传感器的成本。

公开(公告)号：CN102129003A

公开(公告)日：2011-07-20

申请号：CN201010592068.5

申请日：2010-12-13

申请人： 微探测株式会社

发明人： 金圣振 ,  李东俊 ,  边宗桓 ,  郑累利

IPC分类号： G01R31/02 ,  G01R1/067 ,  G01R1/07

摘要： 本发明涉及电路板检查装置，通过接触式探头向印刷在电路板的节点电极、接通交流电源后，通过电容式非接触传感器检测电压值的同时感知差分电压值或相位差，节点电极发生短路或断线时，即使电流流过断线部位，也能通过一次扫描、准确地检测。

公开(公告)号：CN101109782B

公开(公告)日：2011-08-17

申请号：CN200710130585.9

申请日：2007-07-18

申请人： 微探测株式会社

发明人： 殷琸 ,  金圣振 ,  崔熙德 ,  李东俊 ,  朴钟印 ,  赵宇徹

IPC分类号： G01R31/08 ,  G01R31/02

CPC分类号： G01R31/2812 ,  G01R31/025 ,  G01R31/312 ,  G02F2001/136254

摘要： 此处公开的是非接触单面探测以及用于测试模式电极的开路和短路的装置和方法。通过馈送电源到每个模式电极的一端并且使用作为独立模块的包括激励电极和传感器电极的非接触型单面探测设备感测电气变化值，模式电极的开路和短路能够通过一个扫描处理被测试。由于使用非接触型单面探测设备测试模式电极的开路和短路，所以模式电极能够避免由于接触故障或加压接触而被损坏，并且对比接触型探测设备所述探测设备的使用周期能够增加。

公开(公告)号：CN101793914A

公开(公告)日：2010-08-04

申请号：CN201010001836.5

申请日：2010-01-18

申请人： 微探测株式会社

发明人： 殷琸 ,  金圣振 ,  李东俊 ,  张星俊

IPC分类号： G01R1/067 ,  G01R31/02

摘要： 本发明涉及接触式金属丝制探针，该探针采用的柔性金属丝具有扫描方向的惯性力矩小于垂直于扫描方向的惯性力矩的截面形状，在施加弯曲作用力使其向扫描方向弯曲的状态下进行扫描时，不仅能够提高扫描方向性，而且由于柔性金属丝在弯曲状态下进行扫描，能够确保与金属丝弯曲长度相当的高度富余量，提高对被测对象高度变化的适应能力，又由于柔性金属丝在较小的弯曲作用力下也能向扫描方向弯曲，因此，在扫描时能够减少与被测对象之间的摩擦，从而减少柔性金属丝及被测对象的磨损。

公开(公告)号：CN101625392A

公开(公告)日：2010-01-13

申请号：CN200910151948.6

申请日：2009-07-06

申请人： 微探测株式会社

发明人： 殷琸 ,  金圣振 ,  李东俊

IPC分类号： G01R31/02

CPC分类号： G01R31/304 ,  G01R31/2874

摘要： 公开了一种电路衬底的检测方法，该方法用于检测具有多层的结构的电路衬底的电气性质，该方法通过控制检测环境使得露珠形成在电路衬底的表面上并探测露珠状态的改变，从而确定关于有缺陷的触点或导通孔、微导通孔和内层的电路图案的导线的热容量的变化。根据这些，可以相对于宽的区域同时进行检测，因此可以改善检测效率。另外，由于导线的温度可以通过露珠状态的改变来直接进行测量，可以节省温度测量的成本。此外，在改善检测速度的同时，可以降低用于感测宽的区域的温度的区域传感器的成本。

公开(公告)号：CN100523825C

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200710130586.3

申请日：2007-07-18

申请人： 微探测株式会社

发明人： 殷琸 ,  金圣振

IPC分类号： G01R1/07

CPC分类号： G01R1/06761 ,  G01R1/07342

摘要： 一种非接触型单面探针结构，在该结构中重复堆叠了多重绝缘薄膜和多重导电薄膜，该结构包括形成于该结构横截面的内导电薄膜部分上的探针电极，以及形成于环绕该探针电极的外导电薄膜部分的防护部分。因此，该结构能够形成具有导电薄膜厚度的探针电极，所述导电薄膜厚度与模式电极的管脚间距一致，从而能够在微型化的模式电极中探测到断路和短路。用作探针的横截面与接触孔相距特定的距离或者更远的距离，从而对噪音具有高的电阻。