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发明公开
用于以测量技术检测测量对象的特性的装置和方法审中-实审

公开(公告)号：CN119213274A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202380040839.5

申请日：2023-05-12

Applicant: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司

Inventor： 汉内斯·洛费尔 , 安德烈亚斯·利贝尔 , 托马斯·惠斯宾特纳 , 伯恩哈德·谢尔兹

IPC: G01B5/00 , G01B11/00 , G01B21/00

Abstract: 一种用于以测量技术检测测量对象(9)的特性的装置，其包括具有至少一个定位单元(4)和至少一个测量单元(3)的测量装置(1)、计算模块(16)以及具有评估模块(17)的评估单元(2)，其中，所述定位单元(4)使所述测量对象(9)和所述测量单元(3)相对彼此定位，并且所述测量单元(3)所述测量对象(9)的测量数据检测，其中，通过所述计算模块(16)能够由位置数据和测量数据产生测量对象(9)的图像，其特征在于，在计算模块(16)和评估模块(17)之间构造用于传输数据的标准化接口(19)，并且被传输的数据不仅是测量单元(3)的数据而且是定位单元(4)的数据。此外给出一种用于以测量技术检测测量对象的特性的方法。

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